基于统计过程控制的软件缺陷度量研究及缺陷监控系统的实现
| 摘要 | 第1-9页 |
| ABSTRACT | 第9-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-20页 |
| ·目的与范围 | 第10页 |
| ·软件界面临的的问题 | 第10-11页 |
| ·若干引起软件界关注的问题 | 第10-11页 |
| ·解决软件问题的出路 | 第11页 |
| ·软件过程度量的历史与现状 | 第11-14页 |
| ·软件过程度量概述 | 第11-12页 |
| ·发展与应用现状 | 第12-14页 |
| ·统计过程控制的历史与现状 | 第14-17页 |
| ·统计过程控制概述 | 第14-15页 |
| ·应用现状 | 第15-17页 |
| ·研究内容 | 第17-18页 |
| ·研究成果 | 第18-19页 |
| ·论文结构 | 第19-20页 |
| 第二章 软件缺陷的度量及统计过程控制理论 | 第20-42页 |
| ·引言 | 第20页 |
| ·软件度量 | 第20-22页 |
| ·软件度量的定义 | 第20-21页 |
| ·软件度量的活动 | 第21-22页 |
| ·能力成熟度模型CMM | 第22-26页 |
| ·CMM的5个成熟度等级 | 第22-24页 |
| ·过程稳定性与过程能力基线 | 第24-25页 |
| ·CMM的缺陷度量 | 第25-26页 |
| ·缺陷度量 | 第26-34页 |
| ·缺陷的定义 | 第26页 |
| ·缺陷的严重性和类型 | 第26-27页 |
| ·缺陷的状态 | 第27-28页 |
| ·缺陷的度量 | 第28-34页 |
| ·统计过程控制理论 | 第34-40页 |
| ·统计过程控制的基本原理 | 第34-35页 |
| ·控制图的定义 | 第35页 |
| ·控制图的判定准则 | 第35-36页 |
| ·控制图的种类 | 第36页 |
| ·过程能力指数 | 第36-40页 |
| ·控制图的实施过程 | 第40-41页 |
| ·本章小结 | 第41-42页 |
| 第三章 SHEWHART控制图在缺陷度量中的应用 | 第42-61页 |
| ·引言 | 第42-43页 |
| ·(X|ˉ)—R图定义及其应用 | 第43-48页 |
| ·(X|ˉ)—R图的定义 | 第43-44页 |
| ·(X|ˉ)—R图的应用 | 第44-48页 |
| ·(X|ˉ)—S图定义及其应用 | 第48-50页 |
| ·(X|ˉ)—S图的定义 | 第48-49页 |
| ·(X|ˉ)—S图的应用 | 第49-50页 |
| ·U图定义及其应用 | 第50-55页 |
| ·U图的定义 | 第50-51页 |
| ·U图的应用 | 第51-55页 |
| ·加权控制图的算法的提出 | 第55-60页 |
| ·传统SPC控制图的缺陷 | 第55-56页 |
| ·(X|ˉ)—R控制图加权控制算法 | 第56-58页 |
| ·应用比较 | 第58-60页 |
| ·本章小结 | 第60-61页 |
| 第四章 软件缺陷监控系统的开发与实现 | 第61-74页 |
| ·引言 | 第61页 |
| ·系统的总体设计思想 | 第61-62页 |
| ·缺陷监控系统的主要功能模块 | 第62-64页 |
| ·缺陷监控系统的实现 | 第64-69页 |
| ·缺陷监控系统的实现效果 | 第69-73页 |
| ·系统主界面 | 第69-70页 |
| ·排序主界面 | 第70-71页 |
| ·查询主界面 | 第71页 |
| ·统计报表及统计图主界面 | 第71-72页 |
| ·统计控制图主界面 | 第72-73页 |
| ·本章小结 | 第73-74页 |
| 第五章 结论与未来研究工作展望 | 第74-76页 |
| ·结论 | 第74-75页 |
| ·未来研究工作展望 | 第75-76页 |
| 致谢 | 第76-77页 |
| 附录 攻读硕士期间发表的论文 | 第77-78页 |
| 参考文献 | 第78-81页 |
