C波段频率合成源的研制
| 1 绪论 | 第1-11页 |
| ·频率合成技术的概念及其主要技术指标 | 第7-8页 |
| ·频率合成技术的发展 | 第8-10页 |
| ·论文的主要工作 | 第10-11页 |
| 2 锁相环合成技术 | 第11-26页 |
| ·锁相环的基本原理 | 第11-17页 |
| ·鉴相器(PD) | 第11-13页 |
| ·环路滤波器(LPF) | 第13-15页 |
| ·RC积分滤波器 | 第13页 |
| ·无源比例积分滤波器 | 第13-14页 |
| ·有源比例积分滤波器 | 第14-15页 |
| ·压控振荡器(VCO) | 第15页 |
| ·分频器N | 第15-17页 |
| ·锁相环的线性分析 | 第17-19页 |
| ·锁相环的跟踪和捕获性能 | 第19-20页 |
| ·锁相环的跟踪性能 | 第19页 |
| ·锁相环的捕获性能 | 第19-20页 |
| ·锁相环的捕获过程 | 第19-20页 |
| ·锁相环的捕获时间 | 第20页 |
| ·锁相环的噪声性能分析 | 第20-24页 |
| ·传递函数 | 第20-23页 |
| ·环路带宽和相位余量 | 第21-22页 |
| ·环路带内噪声 | 第22页 |
| ·环路带外噪声 | 第22-23页 |
| ·带内相位噪声公式 | 第23页 |
| ·其他相位噪声 | 第23-24页 |
| ·锁相环的杂散性能分析 | 第24-26页 |
| ·泄漏杂散 | 第24页 |
| ·脉冲杂散 | 第24-25页 |
| ·总参考杂散公式 | 第25页 |
| ·非参考杂散 | 第25-26页 |
| 3 直接数字频率合成技术 | 第26-38页 |
| ·DDS的基本原理 | 第26-31页 |
| ·DDS的理论基础和基本结构 | 第26-27页 |
| ·DDS的原理 | 第27-29页 |
| ·DDS的数学综合 | 第29-31页 |
| ·DDS的结构 | 第31-32页 |
| ·相位累加器 | 第31页 |
| ·正弦查询表 | 第31页 |
| ·数模转换器与低通滤波器 | 第31-32页 |
| ·DDS的频谱分析 | 第32-38页 |
| ·DDS理想状态下的频谱特性 | 第32-33页 |
| ·DDS非理想状态下的频谱特性 | 第33-38页 |
| ·DDS的相位截断误差 | 第34-36页 |
| ·幅度量化误差 | 第36-37页 |
| ·DAC的非线性误差 | 第37-38页 |
| 4 C波段频率步进源的系统分析 | 第38-42页 |
| ·C波段频率步进源的指标要求 | 第38页 |
| ·C波段频率步进源的方案分析 | 第38-40页 |
| ·具体方案分析 | 第40-42页 |
| ·PLL的分析选择 | 第40-41页 |
| ·DDS的分析选择 | 第41-42页 |
| 5 系统的仿真和电路设计 | 第42-55页 |
| ·PLL的选择和仿真 | 第42-49页 |
| ·PLL芯片介绍 | 第42-43页 |
| ·ADF4360-7的电路介绍 | 第43-44页 |
| ·脉冲吞余功能 | 第43页 |
| ·鉴频鉴相器和电荷泵 | 第43页 |
| ·多路复用器和锁定指示 | 第43-44页 |
| ·VCO性能 | 第44页 |
| ·具体分析 | 第44-45页 |
| ·仿真分析 | 第45-49页 |
| ·DDS的选择和电路设计 | 第49-55页 |
| ·DDS芯片介绍 | 第49-50页 |
| ·AD9954操作理论 | 第50-51页 |
| ·AD9954操作模式 | 第51-53页 |
| ·单频模式 | 第51页 |
| ·RAM控制操作模式 | 第51页 |
| ·线性扫频模式 | 第51-53页 |
| ·实物和测试结果 | 第53-55页 |
| 结束语 | 第55-56页 |
| 致谢 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-60页 |
| 附录 | 第60-63页 |
