| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 目录 | 第5-8页 |
| 第1章 绪论 | 第8-20页 |
| 1．1 集成电路发展概况 | 第8-10页 |
| 1．2 研究模拟电路的重要性 | 第10-14页 |
| 1．2．1 模拟集成电路的重要性 | 第10-12页 |
| 1．2．2 研究CMOS模拟集成电路的重要性 | 第12-14页 |
| 1．3 模拟电路设计的难点 | 第14页 |
| 1．4 模拟电路的设计流程 | 第14-18页 |
| 1．5 本文完成的主要工作 | 第18-20页 |
| 第2章 流水线ADC工作原理及特点 | 第20-32页 |
| 2．1 模数转换器的应用及种类 | 第20-24页 |
| 2．2 国际国内研究状况和进展 | 第24-25页 |
| 2．3 流水线ADC的工作原理和特点 | 第25-32页 |
| 2．3．1 流水线A／D转换器的体系结构 | 第25-27页 |
| 2．3．2 子级电路 | 第27-28页 |
| 2．3．3 误差校正技术 | 第28-32页 |
| 第3章 采样保持电路的设计 | 第32-65页 |
| 3．1 运算放大器的性能参数 | 第32-34页 |
| 3．2 各种运放结构比较 | 第34-43页 |
| 3．2．1 折叠—级联运放 | 第34-37页 |
| 3．2．2 套筒式运放 | 第37-39页 |
| 3．2．3 增益提高技术 | 第39-41页 |
| 3．2．4 两级运放 | 第41-42页 |
| 3．2．5 运放性能比较 | 第42-43页 |
| 3．3 共模反馈 | 第43-50页 |
| 3．3．1 共模反馈概述 | 第43-45页 |
| 3．3．2 共模反馈电路设计 | 第45-50页 |
| 3．4 运放设计 | 第50-55页 |
| 3．4．1 电路设计 | 第50-51页 |
| 3．4．2 运放开环性能仿真 | 第51-55页 |
| 3．5 采样保持电路(Sample-and-Hold Circuit) | 第55-63页 |
| 3．5．1 采样保持电路原理及电路设计 | 第55-57页 |
| 3．5．2 沟道电荷注入消除技术及底板采样技术 | 第57-61页 |
| 3．5．3 采样保持电路的前仿真 | 第61-62页 |
| 3．5．4 采样保持电路的版图与后仿真 | 第62-63页 |
| 3．6 MDAC(Multiplying DAC)的设计 | 第63-65页 |
| 第4章 动态比较器与时钟产生电路 | 第65-69页 |
| 4．1 动态比较器的设计 | 第65-68页 |
| 4．1．1 动态比较器的结构 | 第65-67页 |
| 4．1．2 动态比较器的仿真结果 | 第67-68页 |
| 4．2 时钟产生电路的设计 | 第68-69页 |
| 第5章 芯片照片、版图及仿真结果 | 第69-74页 |
| 5．1 芯片照片及版图 | 第69页 |
| 5．2 芯片仿真结果 | 第69-73页 |
| 5．2．1 直流响应 | 第69-70页 |
| 5．2．2 交流响应 | 第70-71页 |
| 5．2．3 Signal-to-noise and distortion ratio(SNDR) | 第71-73页 |
| 5．3 A／D转换器性能总结 | 第73-74页 |
| 第6章 总结和展望 | 第74-75页 |
| 参考文献 | 第75-78页 |
| 致谢 | 第78页 |
