CSP封装功率循环模拟及焊点的寿命预测分析
摘要 | 第1-3页 |
ABSTRACT | 第3-6页 |
第一章 绪论 | 第6-22页 |
·集成电路封装的发展 | 第6-11页 |
·微电子封装技术的世纪回顾 | 第6-9页 |
·IC封装发展的关键步骤与发展内外因素 | 第9-11页 |
·IC封装发展步骤 | 第9页 |
·IC封装的发展内因 | 第9-10页 |
·IC封装发展的外因 | 第10-11页 |
·电子封装SnPb焊点可靠性的研究 | 第11-15页 |
·SnPb(锡铅合金)焊料的应用 | 第11页 |
·电子封装SnPb焊点可靠性研究内容 | 第11-13页 |
·SnPb钎料的力学行为及其本构方程 | 第13-15页 |
·SnPb焊点寿命预测方法 | 第15-20页 |
·本文研究的意义及主要内容 | 第20-22页 |
第二章 热分析基本理论和寿命预测方法 | 第22-43页 |
·传热学基本理论 | 第22-25页 |
·Fourier定律 | 第22页 |
·热传导基本微分方程 | 第22-23页 |
·三类基本边界条件 | 第23-24页 |
·瞬态传热 | 第24-25页 |
·CSP功率循环热分析模拟方法 | 第25-36页 |
·CSP模型介绍 | 第25-29页 |
·功率循环热分析模拟方法 | 第29-31页 |
·自然对流系数模拟方法 | 第31-36页 |
·Bret A.Zahn自由对流公式 | 第31-34页 |
·Quan Li自由对流公式 | 第34-36页 |
·CSP功率循环的热应力模拟 | 第36-40页 |
·SnPb钎料合金粘塑性Anand本构方程 | 第36-38页 |
·热应力分析模拟方法 | 第38-40页 |
·CSP功率循环疲劳寿命预测模拟方法 | 第40-43页 |
第三章 1/8CSP功率循环热分析 | 第43-56页 |
·1/8CSP有限元模型 | 第43-45页 |
·基于Bret A.Zahn公式的热分析模拟 | 第45-48页 |
·基于Quan Li公式的热分析模拟 | 第48-54页 |
·考虑水平表面自然对流 | 第48-51页 |
·考虑水平表面和垂直表面自然对流 | 第51-54页 |
·本章小结 | 第54-56页 |
第四章 CSP热应力应变分析及疲劳寿命预测 | 第56-69页 |
·1/8CSP模型热应力应变分析 | 第56-60页 |
·1/8CSP简化模型结果比较 | 第60-64页 |
·CSP对角线条形模型分析 | 第64-68页 |
·本章小结 | 第68-69页 |
第五章 总结及展望 | 第69-71页 |
参考文献 | 第71-77页 |
攻读学位期间参加的科研工作和发表的论文 | 第77-78页 |
致谢 | 第78页 |