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CSP封装功率循环模拟及焊点的寿命预测分析

摘要第1-3页
ABSTRACT第3-6页
第一章 绪论第6-22页
   ·集成电路封装的发展第6-11页
     ·微电子封装技术的世纪回顾第6-9页
     ·IC封装发展的关键步骤与发展内外因素第9-11页
       ·IC封装发展步骤第9页
       ·IC封装的发展内因第9-10页
       ·IC封装发展的外因第10-11页
   ·电子封装SnPb焊点可靠性的研究第11-15页
     ·SnPb(锡铅合金)焊料的应用第11页
     ·电子封装SnPb焊点可靠性研究内容第11-13页
     ·SnPb钎料的力学行为及其本构方程第13-15页
   ·SnPb焊点寿命预测方法第15-20页
   ·本文研究的意义及主要内容第20-22页
第二章 热分析基本理论和寿命预测方法第22-43页
   ·传热学基本理论第22-25页
     ·Fourier定律第22页
     ·热传导基本微分方程第22-23页
     ·三类基本边界条件第23-24页
     ·瞬态传热第24-25页
   ·CSP功率循环热分析模拟方法第25-36页
     ·CSP模型介绍第25-29页
     ·功率循环热分析模拟方法第29-31页
     ·自然对流系数模拟方法第31-36页
       ·Bret A.Zahn自由对流公式第31-34页
       ·Quan Li自由对流公式第34-36页
   ·CSP功率循环的热应力模拟第36-40页
     ·SnPb钎料合金粘塑性Anand本构方程第36-38页
     ·热应力分析模拟方法第38-40页
   ·CSP功率循环疲劳寿命预测模拟方法第40-43页
第三章 1/8CSP功率循环热分析第43-56页
   ·1/8CSP有限元模型第43-45页
   ·基于Bret A.Zahn公式的热分析模拟第45-48页
   ·基于Quan Li公式的热分析模拟第48-54页
     ·考虑水平表面自然对流第48-51页
     ·考虑水平表面和垂直表面自然对流第51-54页
   ·本章小结第54-56页
第四章 CSP热应力应变分析及疲劳寿命预测第56-69页
   ·1/8CSP模型热应力应变分析第56-60页
   ·1/8CSP简化模型结果比较第60-64页
   ·CSP对角线条形模型分析第64-68页
   ·本章小结第68-69页
第五章 总结及展望第69-71页
参考文献第71-77页
攻读学位期间参加的科研工作和发表的论文第77-78页
致谢第78页

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