电子元器件的外观检测系统的研究与开发
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-17页 |
| ·课题的背景和意义 | 第9-11页 |
| ·国内外技术发展现状与趋势 | 第11-15页 |
| ·论文主要内容 | 第15-17页 |
| 第二章 电子元器件外观检测系统的总体方案设计 | 第17-31页 |
| ·机器视觉概述 | 第17-18页 |
| ·机器视觉的原理及应用现状 | 第17-18页 |
| ·机器视觉的发展现状 | 第18页 |
| ·CCD的选择 | 第18-23页 |
| ·CCD相机的组成与工作原理 | 第18-19页 |
| ·CCD的功能特性 | 第19页 |
| ·CCD的分类 | 第19-20页 |
| ·CCD的特性参数 | 第20-23页 |
| ·CCD的品牌 | 第23页 |
| ·光照单元的设计 | 第23-27页 |
| ·照明环境的选择 | 第23-24页 |
| ·照明光源的作用 | 第24页 |
| ·常见的视觉光源 | 第24-25页 |
| ·照明方式的选择 | 第25-26页 |
| ·光源的基本参数 | 第26页 |
| ·光的度量 | 第26页 |
| ·光的颜色 | 第26页 |
| ·光源的选择 | 第26-27页 |
| ·检测系统的机械平台 | 第27-30页 |
| ·系统结构图 | 第27-29页 |
| ·系统工作流程 | 第29页 |
| ·相机采图的调试 | 第29-30页 |
| ·本章小结 | 第30-31页 |
| 第三章 数字图像处理分析 | 第31-44页 |
| ·数字图像处理技术 | 第31-32页 |
| ·数字图像处理系统的结构 | 第31页 |
| ·数字图像处理技术的发展和应用 | 第31-32页 |
| ·图像处理对象的分析 | 第32-36页 |
| ·电子元器件的种类 | 第32-34页 |
| ·电子元器件的检测 | 第34-36页 |
| ·数字图像预处理的基本方法 | 第36-43页 |
| ·图像直方图处理 | 第36-37页 |
| ·图像二值化 | 第37页 |
| ·图像的形态学处理 | 第37-41页 |
| ·图像的算术/逻辑操作 | 第41-43页 |
| ·本章小结 | 第43-44页 |
| 第四章 电子元器件缺陷检测算法设计 | 第44-56页 |
| ·缺陷检测基本原理 | 第44-48页 |
| ·传统的Canny边缘检测方法 | 第44-45页 |
| ·改进的自适应canny算法 | 第45-48页 |
| ·缺陷检测算法 | 第48-52页 |
| ·算法实现流程图 | 第52-54页 |
| ·本章小结 | 第54-56页 |
| 总结与展望 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-60页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第60-61页 |
| 致谢 | 第61-62页 |
| 附件 | 第62页 |
