热伏系统的光学及光谱特性检测与分析
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 1 绪论 | 第7-11页 |
| ·热光伏转换系统及光学滤波器的研究背景及发展状况 | 第7-8页 |
| ·热光伏转换系统的研究背景及发展状况 | 第7-8页 |
| ·热伏系统光学及光谱特性检测的研究背景 | 第8页 |
| ·对光学滤波器光学及光谱特性的研究和研究意义 | 第8-11页 |
| ·现研究的问题 | 第9页 |
| ·热伏系统的光学及光谱特性研究的意义 | 第9-11页 |
| 2 光学滤波器红外选择特性的理论基础 | 第11-26页 |
| ·光学滤波器红外选择特性的基本理论 | 第11-17页 |
| ·麦克斯韦方程 | 第11-12页 |
| ·平面电磁波 | 第12-14页 |
| ·光学导纳 | 第14-17页 |
| ·平面电磁波在单一界面上的反射和折射 | 第17-26页 |
| ·E|-和H|-的边界条件 | 第17-18页 |
| ·反射定律和折射定律 | 第18-19页 |
| ·菲涅尔公式 | 第19-22页 |
| ·第二介质是吸收介质的情况 | 第22-24页 |
| ·全反射 | 第24-26页 |
| 3. 薄膜透射率、反射率、损耗的测量 | 第26-43页 |
| ·光谱分析测试系统的基本原理 | 第26-31页 |
| ·单色仪型分光光度计的基本原理 | 第29页 |
| ·基于干涉型的光谱分析系统 | 第29-31页 |
| ·薄膜光谱透射率的测试 | 第31-35页 |
| ·薄膜反射率的测量 | 第35-42页 |
| ·单次反射法测试薄膜的反射率 | 第36-39页 |
| ·V-W光路测量薄膜反射率 | 第39-42页 |
| ·薄膜的吸收和散射测量 | 第42-43页 |
| 4. 检测系统构建 | 第43-56页 |
| ·光谱仪的背景知识 | 第43-48页 |
| ·光谱仪的发展历史及现状 | 第43-44页 |
| ·光谱仪原理及微型光纤光谱仪系统的简介 | 第44-46页 |
| ·不同的用途的光栅选取 | 第46-48页 |
| ·检测要求分析及配件的选取 | 第48-51页 |
| ·光谱仪的选取 | 第48-50页 |
| ·光源及光学附件的选取 | 第50-51页 |
| ·测试方案设计 | 第51-56页 |
| ·测试方案及步骤 | 第51-53页 |
| ·注意事项 | 第53-55页 |
| ·测试结果的检验方法 | 第55-56页 |
| 5 薄膜检测 | 第56-63页 |
| ·滤光片的设计数据 | 第56-61页 |
| ·滤光片的实际测量 | 第61-63页 |
| 结论 | 第63-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-66页 |
