基于PXI系统对VIETS的测试及标定技术研究
| 内容提要 | 第1-7页 |
| 第1章 绪论 | 第7-15页 |
| ·电子仪器的发展 | 第7-8页 |
| ·虚拟仪器概述 | 第8-11页 |
| ·虚拟仪器的基础—硬件 | 第10页 |
| ·虚拟仪器的核心—软件 | 第10-11页 |
| ·检测技术的发展 | 第11-12页 |
| ·论文研究的意义 | 第12-13页 |
| ·论文主要研究内容 | 第13-15页 |
| 第2章 PXI检测系统总体设计 | 第15-34页 |
| ·目标系统VIETS的研究 | 第15-27页 |
| ·VIETS介绍 | 第15-19页 |
| ·原系统软面板的总体设计 | 第19-21页 |
| ·VIETS软面板的改进设计 | 第21-27页 |
| ·PXI系统的构建 | 第27-29页 |
| ·应用PXI系统的设计方案 | 第29-33页 |
| ·数据采集概述 | 第29页 |
| ·信号分析 | 第29-30页 |
| ·检测系统设计 | 第30-33页 |
| ·本章小结 | 第33-34页 |
| 第3章 VI-5401 信号发生卡的检测系统 | 第34-48页 |
| ·VI-5401 信号发生器 | 第34-36页 |
| ·DDS技术介绍 | 第34页 |
| ·DDS信号发生模块 | 第34-36页 |
| ·检测系统总体设计方案 | 第36-38页 |
| ·相关误差标准 | 第38-42页 |
| ·电压标准 | 第38页 |
| ·电阻误差 | 第38-40页 |
| ·集成运放的运算误差 | 第40-42页 |
| ·关键单元电路检测程序设计 | 第42-47页 |
| ·基准电压电路检测 | 第42-44页 |
| ·差分放大电路的检测 | 第44-46页 |
| ·偏置电压实现电路的检测 | 第46-47页 |
| ·测试系统结果及分析 | 第47-48页 |
| 第4章 标定技术研究和VI-5102 校准 | 第48-63页 |
| ·标定技术 | 第48页 |
| ·VI-5102 数字存储示波器 | 第48-51页 |
| ·数字存储示波器原理 | 第48-50页 |
| ·数字存储示波器误差分析 | 第50-51页 |
| ·VI-5102 板卡的校准 | 第51-58页 |
| ·采集信号校准方法 | 第51-52页 |
| ·采集信号校准方案设计 | 第52-54页 |
| ·采集信号校准结果 | 第54-58页 |
| ·系统结果及分析 | 第58-63页 |
| 第5章 全文总结 | 第63-65页 |
| ·研究工作成果及总结 | 第63页 |
| ·下一步研究建议 | 第63-65页 |
| 参考文献 | 第65-67页 |
| 摘要 | 第67-70页 |
| Abstract | 第70-73页 |
| 致谢 | 第73-74页 |
| 导师及作者简介 | 第74页 |
