SiO2纳米线及ZnO/SiO2复合物的制备与表征
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第一章 文献综述 | 第9-27页 |
| ·引言 | 第9页 |
| ·纤蛇纹石的性质和应用 | 第9-19页 |
| ·纤蛇纹石的结构和性质 | 第9-12页 |
| ·纤蛇纹石的应用 | 第12-15页 |
| ·纳米粉体的分散 | 第15-17页 |
| ·纤蛇纹石应用存在的问题和发展前景 | 第17-19页 |
| ·纳米SiO_2的研究现状 | 第19-21页 |
| ·纳米SiO_2的制备方法 | 第19页 |
| ·纳米SiO_2的应用 | 第19-21页 |
| ·SiO_2纳米线的研究现状 | 第21页 |
| ·ZnO及其复合物的研究现状 | 第21-26页 |
| ·ZnO的制备方法 | 第21-22页 |
| ·ZnO的应用 | 第22-24页 |
| ·负载型ZnO复合物的研究现状 | 第24-26页 |
| ·本论文的研究内容和意义 | 第26-27页 |
| 第二章 纤蛇纹石的分散和SiO_2纳米线的制备 | 第27-41页 |
| ·实验原料和仪器 | 第27页 |
| ·检测设备及相应的检测参数 | 第27-28页 |
| ·实验内容 | 第28-32页 |
| ·纤蛇纹石的分散 | 第28-31页 |
| ·SiO_2纳米线的制备 | 第31-32页 |
| ·结果与分析 | 第32-41页 |
| ·纤蛇纹石的分散 | 第32-38页 |
| ·SiO_2纳米线的制备 | 第38-41页 |
| 第三章 ZnO/SiO_2复合物的制备与表征 | 第41-58页 |
| ·实验原料和仪器 | 第41页 |
| ·检测设备及相应的检测参数 | 第41-42页 |
| ·实验内容 | 第42-44页 |
| ·结果与分析 | 第44-58页 |
| ·热重/差示扫描分析 | 第44-45页 |
| ·X-射线衍射分析 | 第45-46页 |
| ·傅立叶转换红外光谱分析 | 第46-49页 |
| ·扫描电镜分析 | 第49-51页 |
| ·透射电镜分析 | 第51-52页 |
| ·比表面及孔隙度的测试 | 第52-54页 |
| ·ζ-电位的测试 | 第54-58页 |
| 第四章 ZnO/SiO_2复合物的光学性能研究 | 第58-66页 |
| ·ZnO/SiO_2复合物的紫外可见光吸收性能 | 第58-60页 |
| ·ZnO/SiO_2复合物的光致发光性能 | 第60-66页 |
| 第五章 结论 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-74页 |
| 攻读硕士期间的主要成绩 | 第74-75页 |
| 致谢 | 第75页 |
