| 中文摘要 | 第1页 |
| 英文摘要 | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-14页 |
| ·研究目的和意义 | 第7-9页 |
| ·国内外研究现状概述 | 第9-12页 |
| ·绝缘子污秽检测的研究方法及现状 | 第9-11页 |
| ·微波辐射测量技术的研究与发展现状 | 第11-12页 |
| ·本论文的研究方法及主要工作 | 第12-14页 |
| ·研究方法 | 第12页 |
| ·主要工作 | 第12-14页 |
| 第二章 绝缘子辐射亮温测量试验装置及方法 | 第14-20页 |
| ·引言 | 第14页 |
| ·试品 | 第14页 |
| ·人工染污方法 | 第14-16页 |
| ·等值盐密与灰密的计算 | 第16-17页 |
| ·测量装置 | 第17-18页 |
| ·试验布置及湿润 | 第18-19页 |
| ·小结 | 第19-20页 |
| 第三章 8mm 微波辐射计检测绝缘子污秽的理论分析 | 第20-29页 |
| ·引言 | 第20页 |
| ·污秽物的检测原理 | 第20-21页 |
| ·微波辐射测量物理量 | 第21页 |
| ·辐射计检测绝缘子污秽模型的建立 | 第21-28页 |
| ·三层媒质模型 | 第22-24页 |
| ·污秽层分析 | 第24-25页 |
| ·污秽厚度 | 第25页 |
| ·绝缘子层 | 第25-26页 |
| ·频率的选取 | 第26-27页 |
| ·极化方式和入射角 | 第27-28页 |
| ·小结 | 第28-29页 |
| 第四章 不同盐密、灰密下绝缘子的微波辐射特性 | 第29-41页 |
| ·引言 | 第29页 |
| ·消去背景天空温度 | 第29-30页 |
| ·绝缘子辐射亮温与等值盐密的关系 | 第30-33页 |
| ·绝缘子辐射亮温与灰密的关系 | 第33-35页 |
| ·最小二乘法拟合污秽绝缘子亮温计算公式 | 第35-38页 |
| ·公式推导 | 第35-36页 |
| ·回归方程显著性检验 | 第36-37页 |
| ·回归系数显著性检验 | 第37-38页 |
| ·TABLE CURVE3D 软件拟合污秽绝缘子亮温计算公式 | 第38-39页 |
| ·利用微波辐射计进行实时计算 | 第39-40页 |
| ·小结 | 第40-41页 |
| 第五章 电力系统工况下绝缘子微波辐射测量的研究 | 第41-48页 |
| ·引言 | 第41页 |
| ·染污方式对绝缘子辐射亮温的影响 | 第41-43页 |
| ·不溶性物质对绝缘子辐射亮温的影响 | 第43-44页 |
| ·高电压对绝缘子辐射亮温的影响 | 第44-45页 |
| ·自然积污绝缘子试验研究 | 第45-47页 |
| ·自然积污绝缘子与人工污秽绝缘子辐射亮温测量的一致性 | 第45页 |
| ·自然积污绝缘子的成分研究 | 第45-46页 |
| ·自然积污绝缘子的清洗方法研究 | 第46-47页 |
| ·小结 | 第47-48页 |
| 第六章 结论 | 第48-49页 |
| 参考文献 | 第49-53页 |
| 致谢 | 第53-54页 |
| 在学期间发表的学术论文和参加科研情况 | 第54页 |