| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 1 绪论 | 第9-16页 |
| 1.1 研究背景 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第10-15页 |
| 1.3 本文主要研究内容 | 第15-16页 |
| 2 基于压电阻抗的结构损伤检测基本理论 | 第16-20页 |
| 2.1 压电材料基本性能 | 第16-18页 |
| 2.2 压电阻抗法的基本原理 | 第18-19页 |
| 2.3 本章小结 | 第19-20页 |
| 3 温度对EMI损伤检测技术的影响研究 | 第20-39页 |
| 3.1 PZT单片和PZT双片的温度敏感性研究 | 第20-29页 |
| 3.2 PZT双片-GFRP体系温度影响试验研究 | 第29-33页 |
| 3.3 温度补偿方法 | 第33-37页 |
| 3.4 本章小结 | 第37-39页 |
| 4 剪力对EMI损伤检测技术的影响研究 | 第39-63页 |
| 4.1 剪力对EMI损伤检测影响的试验研究 | 第39-51页 |
| 4.2 剪力补偿方法 | 第51-62页 |
| 4.3 本章小结 | 第62-63页 |
| 5 结论与展望 | 第63-65页 |
| 5.1 结论 | 第63-64页 |
| 5.2 展望 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-71页 |