折叠共源共栅放大器单粒子效应电荷抵消加固技术
| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第8-18页 |
| 1.1 课题背景及研究的目的和意义 | 第8-10页 |
| 1.2 空间辐射环境 | 第10-12页 |
| 1.2.1 太阳辐射线 | 第10-11页 |
| 1.2.2 银河宇宙射线 | 第11页 |
| 1.2.3 范艾伦辐射带 | 第11-12页 |
| 1.3 空间辐射效应分类 | 第12-15页 |
| 1.3.1 总计量效应 | 第12-13页 |
| 1.3.2 剂量率效应 | 第13-14页 |
| 1.3.3 单粒子效应 | 第14-15页 |
| 1.4 国内外研究现状 | 第15-17页 |
| 1.4.1 国外研究现状 | 第15-16页 |
| 1.4.2 国内研究现状 | 第16-17页 |
| 1.5 本文的主要研究内容 | 第17-18页 |
| 第2章SET作用机理及运算放大器的结构设计 | 第18-28页 |
| 2.1 单粒子瞬态效应 | 第18-22页 |
| 2.1.1 电荷的产生、收集和响应 | 第18-20页 |
| 2.1.2 单粒子瞬态效应模型及量化 | 第20-22页 |
| 2.2 SET对模拟电路的影响 | 第22-23页 |
| 2.3 运算放大器的结构设计 | 第23-27页 |
| 2.3.1 电路结构的选取 | 第23-24页 |
| 2.3.2 性能指标和尺寸计算 | 第24-25页 |
| 2.3.3 性能仿真结果 | 第25-27页 |
| 2.4 小结 | 第27-28页 |
| 第3章 器件模型建立及敏感节点分析 | 第28-39页 |
| 3.1 TCAD器件模型的建立 | 第28-32页 |
| 3.2 敏感节点分析 | 第32-37页 |
| 3.2.1 偏置电路的敏感节点分析 | 第33-35页 |
| 3.2.2 差分输入输出级的敏感节点分析 | 第35-37页 |
| 3.3 小结 | 第37-39页 |
| 第4章 运算放大器的加固设计与验证 | 第39-50页 |
| 4.1 多敏感节点自电荷抵消技术的运用 | 第39-45页 |
| 4.1.1 偏置电路的M-SNACC验证 | 第40-43页 |
| 4.1.2 差分输入输出级的M-SNACC验证 | 第43-45页 |
| 4.2 差分电荷抵消（DCC）布局技术的加固验证 | 第45-49页 |
| 4.3 小结 | 第49-50页 |
| 结论 | 第50-51页 |
| 参考文献 | 第51-54页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果 | 第54-56页 |
| 致谢 | 第56页 |
