低成本厚膜发热材料及电热元件研究
摘要 | 第5-7页 |
ABSTRACT | 第7-8页 |
第一章 绪论 | 第12-30页 |
1.1 厚膜发热元件概述 | 第12-17页 |
1.1.1 厚膜发热元件的研究背景 | 第13-16页 |
1.1.2 厚膜发热元件的性能参数 | 第16-17页 |
1.2 低成本厚膜发热电阻浆料概述 | 第17-19页 |
1.3 发热厚膜电阻的导电理论 | 第19-27页 |
1.3.1 发热厚膜电阻的微观结构 | 第19-22页 |
1.3.2 厚膜电阻导电机理的研究现状 | 第22-27页 |
1.4 低成本发热厚膜的研究意义 | 第27-28页 |
1.5 本论文的研究内容 | 第28-30页 |
第二章 实验研究及分析测试方法 | 第30-39页 |
2.1 实验用主要原料及设备 | 第30-31页 |
2.1.1 实验用主要原料 | 第30页 |
2.1.2 主要实验设备 | 第30-31页 |
2.2 主要实验分析方法 | 第31-35页 |
2.2.1 XRD分析 | 第31-32页 |
2.2.2 电导率分析 | 第32-34页 |
2.2.3 电阻-温度系数分析 | 第34页 |
2.2.4 SEM分析 | 第34-35页 |
2.3 电阻浆料的制备 | 第35-37页 |
2.3.1 功能相制备 | 第35-36页 |
2.3.2 有机载体的制备 | 第36-37页 |
2.4 厚膜发热元件的制备与性能表征 | 第37-38页 |
2.5 厚膜电阻的性能表征 | 第38-39页 |
第三章 低成本厚膜功能相制备研究 | 第39-53页 |
3.1 YBCO功能相研究 | 第39-44页 |
3.1.1 YBCO的导电机理 | 第39-40页 |
3.1.2 YBCO的电导率研究 | 第40页 |
3.1.3 测试样品制备 | 第40-42页 |
3.1.4 测试结果分析 | 第42-43页 |
3.1.5 电阻温度系数分析 | 第43-44页 |
3.1.6 XRD研究 | 第44页 |
3.2 LSMO功能相研究 | 第44-48页 |
3.2.1 LSMO导电机理研究 | 第44-45页 |
3.2.2 LSMO电导率研究 | 第45-47页 |
3.2.3 测试结果分析 | 第47页 |
3.2.4 电阻温度系数研究 | 第47-48页 |
3.3 ZnO功能相研究 | 第48-52页 |
3.3.1 ZnO的导电机理 | 第48-50页 |
3.3.2 ZnO电导率研究 | 第50-51页 |
3.3.3 ZnO的电导率研究 | 第51-52页 |
3.4 本章小结 | 第52-53页 |
第四章 厚膜发热元件研究 | 第53-69页 |
4.1 丝网印刷制备厚膜研究 | 第54-56页 |
4.1.1 丝网印刷原理 | 第54页 |
4.1.2 丝网印刷的技术参数 | 第54-56页 |
4.1.3 发热厚膜制备工艺流程 | 第56页 |
4.2 功能相材料及陶瓷基片的热膨胀系数研究 | 第56-59页 |
4.2.1 陶瓷基片热膨胀系数研究 | 第56-58页 |
4.2.2 YBCO热膨胀系数分析 | 第58页 |
4.2.3 LSMO热膨胀系数研究 | 第58-59页 |
4.3 YBCO发热厚膜的性能研究 | 第59-63页 |
4.3.1 YBCO厚膜发热层的电导率研究 | 第59-61页 |
4.3.2 YBCO厚膜发热层的TCR研究 | 第61-62页 |
4.3.3 YBCO厚膜电阻的SEM分析 | 第62-63页 |
4.4 LSMO发热厚膜的性能研究 | 第63-65页 |
4.4.1 LSMO厚膜发热层的电导率研究 | 第63页 |
4.4.2 LSMO厚膜发热层的TCR研究 | 第63-64页 |
4.4.3 LSMO厚膜电阻的SEM分析 | 第64-65页 |
4.5 厚膜发热元件的测试 | 第65-67页 |
4.5.1 YBCO厚膜发热元件测试 | 第66页 |
4.5.2 LSMO厚膜发热元件测试 | 第66-67页 |
4.6 本章小结 | 第67-69页 |
第五章 结论与展望 | 第69-71页 |
5.1 结论 | 第69-70页 |
5.2 展望 | 第70-71页 |
致谢 | 第71-72页 |
参考文献 | 第72-76页 |
攻硕期间取得的研究成果 | 第76-77页 |