首页--工业技术论文--无线电电子学、电信技术论文--基本电子电路论文--数字电路论文

高精度D/A数据转换芯片测试方法的研究和改进

摘要第1-4页
Abstract第4-5页
引言第5-7页
第一章 绪论第7-11页
   ·DAC的基本类型和参数指标第7-9页
   ·DAC测试面临的挑战第9-10页
   ·研究高精度DAC测试方法的目的和意义第10-11页
第二章 自动测试仪器第11-22页
   ·概述第11-13页
   ·ATE硬件系统介绍第13-17页
   ·Teradyne UltraFLEX测试机台介绍第17-22页
第三章 DAC参数定义及测量第22-31页
   ·本征参数和传输参数第22-23页
   ·DAC静态参数第23-27页
   ·DAC动态参数第27-29页
   ·测量误差第29-31页
第四章 高精度DAC静态参数测试第31-44页
   ·基本原理第31-32页
   ·测试要求和挑战第32-34页
   ·解决方案的技术分析第34-36页
   ·方案实现第36-41页
   ·测试结果第41-44页
第五章 高精度DAC动态参数测试第44-55页
   ·基本原理第44页
   ·测试要求和挑战第44-46页
   ·解决方案的技术分析第46页
   ·方案实现第46-51页
   ·测试结果第51-55页
第六章 总结和展望第55-56页
   ·总结第55页
   ·展望第55-56页
参考文献第56-58页
致谢第58-59页

论文共59页,点击 下载论文
上一篇:基于pr技术的互联非线性编辑系统的架构
下一篇:一种电荷泵多通道恒流白光LED驱动设计