| 中文摘要 | 第3-5页 |
| 英文摘要 | 第5-6页 |
| 1 绪论 | 第10-28页 |
| 1.1 电磁屏蔽材料的研究现状 | 第10-22页 |
| 1.1.1 研究背景 | 第10-11页 |
| 1.1.2 屏蔽原理 | 第11-17页 |
| 1.1.3 测试方法 | 第17-18页 |
| 1.1.4 研究现状 | 第18-22页 |
| 1.2 镁合金电磁屏蔽性能研究现状 | 第22-25页 |
| 1.2.1 镁合金的基本性质 | 第22-23页 |
| 1.2.2 镁合金电磁屏蔽材料的优势 | 第23-24页 |
| 1.2.3 镁合金电磁屏蔽性能研究现状 | 第24-25页 |
| 1.3 课题研究目的及意义 | 第25-26页 |
| 1.4 研究内容及成果 | 第26-28页 |
| 1.4.1 研究内容 | 第26-27页 |
| 1.4.2 技术路线 | 第27页 |
| 1.4.3 成果及创新点 | 第27-28页 |
| 2 Mg-X二元合金的电磁屏蔽性能 | 第28-50页 |
| 2.1 引言 | 第28页 |
| 2.2 实验材料及方法 | 第28-32页 |
| 2.2.1 合金设计 | 第28-29页 |
| 2.2.2 合金制备 | 第29页 |
| 2.2.3 合金固溶处理 | 第29-30页 |
| 2.2.4 分析测试方法 | 第30-32页 |
| 2.3 二元合金的组织及电磁屏蔽性能 | 第32-44页 |
| 2.3.1 Mg-Zn | 第32-34页 |
| 2.3.2 Mg-Al | 第34-36页 |
| 2.3.3 Mg-Sn | 第36-39页 |
| 2.3.4 Mg-Y | 第39-41页 |
| 2.3.5 Mg-Gd | 第41-44页 |
| 2.4 分析与讨论 | 第44-48页 |
| 2.5 本章小结 | 第48-50页 |
| 3 Mg-Zn-X三元体系电磁屏蔽性能 | 第50-68页 |
| 3.1 引言 | 第50页 |
| 3.2 实验材料及方法 | 第50-52页 |
| 3.2.1 合金设计 | 第50页 |
| 3.2.2 合金制备 | 第50-51页 |
| 3.2.3 分析测试方法 | 第51-52页 |
| 3.3 Mg-Zn-Al合金的组织及电磁屏蔽性能 | 第52-58页 |
| 3.3.1 显微组织 | 第52-56页 |
| 3.3.2 电磁屏蔽性能 | 第56-58页 |
| 3.4 Mg-Zn-Y合金的组织及电磁屏蔽性能 | 第58-65页 |
| 3.4.1 显微组织 | 第58-63页 |
| 3.4.2 电磁屏蔽性能 | 第63-65页 |
| 3.5 分析与讨论 | 第65-67页 |
| 3.6 本章小结 | 第67-68页 |
| 4 晶粒度及织构对镁合金电磁屏蔽性能的影响 | 第68-84页 |
| 4.1 引言 | 第68页 |
| 4.2 实验材料及方法 | 第68-70页 |
| 4.2.1 合金设计及制备 | 第68页 |
| 4.2.2 合金的轧制变形 | 第68-69页 |
| 4.2.3 分析测试方法 | 第69-70页 |
| 4.3 晶粒度对镁合金电磁屏蔽性能的影响 | 第70-74页 |
| 4.3.1 显微组织 | 第70-72页 |
| 4.3.2 电磁屏蔽性能 | 第72-74页 |
| 4.4 织构对镁合金电磁屏蔽性能的影响 | 第74-78页 |
| 4.4.1 显微组织 | 第74-76页 |
| 4.4.2 电磁屏蔽性能 | 第76-78页 |
| 4.5 分析与讨论 | 第78-82页 |
| 4.5.1 晶粒度对电磁屏蔽性能的影响机理 | 第78-79页 |
| 4.5.2 织构对电磁屏蔽性能的影响机理 | 第79-82页 |
| 4.6 本章小结 | 第82-84页 |
| 5 第二相对镁合金电磁屏蔽性能的影响 | 第84-104页 |
| 5.1 引言 | 第84页 |
| 5.2 实验材料及方法 | 第84-85页 |
| 5.3 第二相含量及形态对镁合金电磁屏蔽性能的影响 | 第85-88页 |
| 5.3.1 显微组织 | 第85-87页 |
| 5.3.2 电磁屏蔽性能 | 第87-88页 |
| 5.4 第二相类型对镁合金电磁屏蔽性能的影响 | 第88-90页 |
| 5.4.1 显微组织 | 第88-89页 |
| 5.4.2 电磁屏蔽性能 | 第89-90页 |
| 5.5 第二相取向对镁合金电磁屏蔽性能的影响 | 第90-100页 |
| 5.5.1 显微组织 | 第90-96页 |
| 5.5.2 电磁屏蔽性能 | 第96-100页 |
| 5.6 分析讨论 | 第100-103页 |
| 5.6.1 第二相含量及形态对屏蔽性能的影响机理 | 第100-102页 |
| 5.6.2 第二相类型对屏蔽性能的影响机理 | 第102页 |
| 5.6.3 第二相取向对屏蔽性能的影响机理 | 第102-103页 |
| 5.7 本章小结 | 第103-104页 |
| 6 镁合金电磁屏蔽性能的模拟计算与实验对比分析 | 第104-118页 |
| 6.1 引言 | 第104页 |
| 6.2 屏蔽性能模拟计算 | 第104-111页 |
| 6.2.1 单一均匀平面屏蔽体模型 | 第104-107页 |
| 6.2.2 多重均匀平面屏蔽体模型： | 第107-111页 |
| 6.3 屏蔽效能计算值与实际值对比 | 第111-114页 |
| 6.4 高屏蔽性能镁合金的设计思路 | 第114-117页 |
| 6.5 本章小结 | 第117-118页 |
| 7 结论与展望 | 第118-122页 |
| 7.1 主要结论 | 第118-119页 |
| 7.2 后续研究工作的展望 | 第119-122页 |
| 致谢 | 第122-124页 |
| 参考文献 | 第124-136页 |
| 附录 | 第136页 |
| A. 作者在攻读学位期间发表的论文目录 | 第136页 |
| B. 作者在攻读学位期间申请的专利目录 | 第136页 |