| 前言 | 第4-5页 |
| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-9页 |
| 第一章 文献综述 | 第13-23页 |
| 1.1 神经系统氧化应激损伤的研究现状 | 第13-14页 |
| 1.2 中枢神经系统损伤修复的研究进展 | 第14-20页 |
| 1.2.1 改善微环境促进轴突再生 | 第14-17页 |
| 1.2.2 神经干细胞移植 | 第17页 |
| 1.2.3 增加神经元再生能力可以更有效的促进损伤神经元的轴突再生 | 第17-20页 |
| 1.3 新的生长锥的生成是轴突损伤后再生的必要条件 | 第20-23页 |
| 第二章 材料与方法 | 第23-36页 |
| 2.1 实验仪器 | 第23-24页 |
| 2.2 实验细胞 | 第24页 |
| 2.3 实验试剂 | 第24-26页 |
| 2.4 实验试剂的配制 | 第26-27页 |
| 2.5 实验方法 | 第27-36页 |
| 2.5.1 SH-SY5Y细胞的培养 | 第27-29页 |
| 2.5.2 MTT实验确定过氧化氢浓度建立氧化损伤细胞模型 | 第29-30页 |
| 2.5.3 RNA干扰技术 | 第30页 |
| 2.5.4 RT-PCR技术检测PTEN干扰后PTEN、CD44基因转录水平 | 第30-32页 |
| 2.5.5 Western blot技术检测PTEN干扰后mTOR、Ps6k、CD44蛋白翻译水平 | 第32-34页 |
| 2.5.6 Phalloidin荧光标记F-actin | 第34页 |
| 2.5.7 PTEN和CD44共同干扰技术 | 第34-35页 |
| 2.5.8 图像分析及统计学处理 | 第35-36页 |
| 第三章 实验结果与分析 | 第36-51页 |
| 3.1 10 μM ATRA诱导SH-SY5Y细胞分化 | 第36页 |
| 3.2 诱导细胞分化程度的鉴定 | 第36页 |
| 3.3 SH-SY5Y细胞氧化应激损伤细胞模型的建立 | 第36-38页 |
| 3.4 利用RNA干扰技术使PTEN表达下调并检测其转录水平 | 第38-39页 |
| 3.5 PTEN基因下调后Western blot技术检测mTOR、pS6k蛋白表达水平 | 第39-41页 |
| 3.6 mTOR通路激活对氧化损伤细胞生长锥和突起长度的影响 | 第41-43页 |
| 3.7 检测实验各组CD44的表达 | 第43-44页 |
| 3.8 PTEN和CD44共同干扰实验 | 第44-51页 |
| 3.8.1 CD44 siRNA干扰效率的确定 | 第44-45页 |
| 3.8.2 PTEN和CD44共同干扰后CD44和PTEN表达水平检测 | 第45-48页 |
| 3.8.3 PTEN和CD44共同干扰后实验各组细胞生长锥和突起的生长情况 | 第48-51页 |
| 第四章 讨论 | 第51-54页 |
| 第五章 结论 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-63页 |
| 研究生期间取得的科研成果 | 第63-64页 |
| 作者简介 | 第63页 |
| 发表论文 | 第63-64页 |
| 致谢 | 第64页 |
