宽禁带半导体氧化物的高温介电性能研究
| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-16页 |
| 1.1 引言 | 第8-9页 |
| 1.2 电介质材料简介 | 第9-12页 |
| 1.2.1 什么是电介质? | 第9页 |
| 1.2.2 陶瓷材料 | 第9-11页 |
| 1.2.3 钙钛矿型陶瓷材料 | 第11-12页 |
| 1.3 宽禁带半导体材料简介 | 第12-13页 |
| 1.3.1 什么是宽禁带半导体 | 第12-13页 |
| 1.3.2 宽禁带半导体材料性能与应用 | 第13页 |
| 1.4 宽禁带半导体研究进展 | 第13-14页 |
| 1.5 本文的主要内容和研究意义 | 第14-16页 |
| 第二章 电介质物理理论 | 第16-26页 |
| 2.1 电介质的性能 | 第16-18页 |
| 2.2 电介质极化机制 | 第18-22页 |
| 2.3 介电弛豫 | 第22-24页 |
| 2.3.1 介电损耗 | 第23页 |
| 2.3.2 德拜弛豫 | 第23-24页 |
| 2.4 实验仪器 | 第24-26页 |
| 第三章 HfO_2陶瓷的高温介电研究 | 第26-40页 |
| 3.1 引言 | 第26页 |
| 3.2 实验过程 | 第26-27页 |
| 3.3 实验结果与讨论 | 第27-39页 |
| 3.4 结论 | 第39-40页 |
| 第四章 GDC陶瓷的高温介电性能 | 第40-46页 |
| 4.1 引言 | 第40页 |
| 4.2 实验过程 | 第40页 |
| 4.3 实验结果与讨论 | 第40-45页 |
| 4.4 结论 | 第45-46页 |
| 第五章 TbFeO_3的高温介电弛豫的研究 | 第46-54页 |
| 5.1 引言 | 第46页 |
| 5.2 实验过程 | 第46-47页 |
| 5.3 实验结果与讨论 | 第47-53页 |
| 5.4 结论 | 第53-54页 |
| 第六章 全文总结 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-64页 |
| 致谢 | 第64-66页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第66页 |
