| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-15页 |
| 1.1 课题背景及意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第10-14页 |
| 1.2.1 单模态Lamb波检测技术 | 第10-11页 |
| 1.2.2 激光超声检测技术 | 第11-12页 |
| 1.2.3 传感器阵列检测技术 | 第12-13页 |
| 1.2.4 缺陷成像技术 | 第13-14页 |
| 1.3 课题来源 | 第14-15页 |
| 第2章 基本理论 | 第15-27页 |
| 2.1 Lamb波的基本理论 | 第15-17页 |
| 2.2 密集型传感器阵列指向性理论 | 第17-22页 |
| 2.2.1 线性阵列指向性 | 第18-20页 |
| 2.2.2 矩形阵列指向性 | 第20-22页 |
| 2.3 信号预处理方法 | 第22-24页 |
| 2.3.1 连续小波变换原理 | 第22-23页 |
| 2.3.2 线性映射频散补偿原理 | 第23-24页 |
| 2.4 本章小结 | 第24-27页 |
| 第3章 矩形阵列参数对成像效果的影响分析 | 第27-41页 |
| 3.1 激光超声激励机理 | 第27-28页 |
| 3.2 缺陷成像算法原理 | 第28-30页 |
| 3.2.1 幅值成像 | 第28-29页 |
| 3.2.2 符号相干因子成像 | 第29-30页 |
| 3.3 实验系统 | 第30-31页 |
| 3.4 密集型阵列信号预处理 | 第31-36页 |
| 3.4.1 特定频率提取 | 第31-33页 |
| 3.4.2 频散信号的线性补偿 | 第33-36页 |
| 3.5 阵列参数对成像效果的影响 | 第36-39页 |
| 3.5.1 阵元数量对成像效果的影响 | 第36-38页 |
| 3.5.2 阵元间距对成像效果的影响 | 第38-39页 |
| 3.6 本章小结 | 第39-41页 |
| 第4章 基于MUSIC算法压电传感器阵列实验研究 | 第41-59页 |
| 4.1 基于MUSIC算法缺陷检测原理 | 第41-47页 |
| 4.1.1 MUSIC算法原理 | 第41-45页 |
| 4.1.2 近场缺陷检测原理 | 第45-47页 |
| 4.1.3 识别能力 | 第47页 |
| 4.2 缺陷检测实验系统 | 第47-48页 |
| 4.3 激励信号选取 | 第48-51页 |
| 4.3.1 检测模态和激励频率选取 | 第48-50页 |
| 4.3.2 实际波速确定 | 第50-51页 |
| 4.4 缺陷成像实验研究 | 第51-57页 |
| 4.4.1 信号预处理 | 第51-53页 |
| 4.4.2 缺陷成像 | 第53-57页 |
| 4.5 本章小结 | 第57-59页 |
| 第5章 基于MUSIC算法的激光Lamb波阵列实验研究 | 第59-69页 |
| 5.1 MUSIC算法缺陷定位步骤 | 第59-60页 |
| 5.2 激光检测实验系统 | 第60-61页 |
| 5.3 激光阵列缺陷检测研究 | 第61-67页 |
| 5.3.1 阵列信号预处理 | 第61-63页 |
| 5.3.2 缺陷成像 | 第63-67页 |
| 5.4 本章小结 | 第67-69页 |
| 结论 | 第69-71页 |
| 参考文献 | 第71-77页 |
| 攻读硕士学位期间所取得的学术成果 | 第77-79页 |
| 致谢 | 第79-80页 |