基于Geant4模拟14MeV快中子成像技术研究
| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-8页 |
| 第一章 引言 | 第11-15页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第11-12页 |
| 1.2 国外研究现状 | 第12-13页 |
| 1.3 国内研究现状 | 第13-14页 |
| 1.4 本文主要研究内容 | 第14页 |
| 1.5 小结 | 第14-15页 |
| 第二章 中子成像基本概述 | 第15-27页 |
| 2.1 中子成像技术基本原理分类 | 第15-20页 |
| 2.1.1 透射成像技术原理 | 第15-17页 |
| 2.1.2 共振成像技术原理 | 第17-19页 |
| 2.1.3 伴随粒子成像技术原理 | 第19-20页 |
| 2.2 中子成像技术的特点及其应用 | 第20-22页 |
| 2.2.1 中子成像技术的特点 | 第20-21页 |
| 2.2.2 中子成像技术的应用 | 第21-22页 |
| 2.3 研究工作条件 | 第22-25页 |
| 2.3.1 CLHEP的介绍 | 第22页 |
| 2.3.2 Geant4模拟工具包的简述 | 第22-24页 |
| 2.3.3 ROOT数据处理包的简介 | 第24页 |
| 2.3.4 模拟计算所需环境支持 | 第24-25页 |
| 2.4 小结 | 第25-27页 |
| 第三章 快中子成像模拟设计及其原理 | 第27-41页 |
| 3.1 模拟设计框架 | 第27-37页 |
| 3.1.1 物理模型构建 | 第27-28页 |
| 3.1.2 中子源的选取 | 第28-30页 |
| 3.1.3 确定待检测物 | 第30-31页 |
| 3.1.4 探测器的筛选 | 第31-35页 |
| 3.1.5 粒子探测器数据筛选与记录 | 第35-36页 |
| 3.1.6 模拟事例及数据处理流程 | 第36-37页 |
| 3.2 模拟原理 | 第37-40页 |
| 3.2.1 二维透射成像原理 | 第37页 |
| 3.2.2 快中子三维成像重建原理 | 第37-39页 |
| 3.2.3 快中子活化分析原理 | 第39-40页 |
| 3.3 小结 | 第40-41页 |
| 第四章 模拟结果及其分析 | 第41-57页 |
| 4.1 二维透射成像 | 第41-47页 |
| 4.1.1 X射线二维透射成像 | 第41-44页 |
| 4.1.2 快中子二维透射成像 | 第44-47页 |
| 4.2 快中子三维图像重建 | 第47-50页 |
| 4.3 快中子活化分析鉴别物质成分 | 第50-56页 |
| 4.3.1 物质成分的定性初步分析 | 第50-53页 |
| 4.3.2 物质成分的定量初步分析 | 第53-56页 |
| 4.4 小结 | 第56-57页 |
| 第五章 总结及展望 | 第57-61页 |
| 5.1 结论 | 第57-58页 |
| 5.2 下一步拟定的工作 | 第58页 |
| 5.3 展望 | 第58-61页 |
| 参考文献 | 第61-65页 |
| 附录一 入射粒子参数定义 | 第65-67页 |
| 附录二 待检测物和闪烁体探测器的构造 | 第67-77页 |
| 作者于攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第77-79页 |
| 致谢 | 第79页 |
