摘要 | 第5-7页 |
abstract | 第7-8页 |
第1章 绪论 | 第13-33页 |
1.1 大型结构在当今科技、工业发展中的应用及意义 | 第13-14页 |
1.2 离面位移测量方法综述 | 第14-29页 |
1.2.1 接触式测量 | 第15-16页 |
1.2.2 非接触式测量 | 第16-26页 |
1.2.2.1 光切法 | 第17页 |
1.2.2.2 光外差法 | 第17-19页 |
1.2.2.3 散斑干涉计量 | 第19-20页 |
1.2.2.4 全息干涉计量 | 第20-22页 |
1.2.2.5 摄影测量 | 第22-23页 |
1.2.2.6 显微测量 | 第23-24页 |
1.2.2.7 结构光 | 第24-25页 |
1.2.2.8 云纹法 | 第25-26页 |
1.2.3 常见商用测量仪 | 第26-29页 |
1 测距仪 | 第26-27页 |
2 全站仪 | 第27-28页 |
3 激光跟踪测量系统 | 第28-29页 |
1.3 大面积全场离面位移测量的技术问题 | 第29页 |
1.4 论文的主要工作介绍 | 第29-30页 |
1.5 本章小结 | 第30-33页 |
第2章 投影栅线算法及测量误差研究 | 第33-57页 |
2.1 测量原理 | 第33-34页 |
2.2 位相处理 | 第34-38页 |
2.2.1 位相提取 | 第34-36页 |
2.2.2 位相展开 | 第36-38页 |
2.3 测量噪声 | 第38-40页 |
2.4 基于条纹特征分析的误差补偿算法 | 第40-45页 |
2.5 基于多次定步长相移的误差消除算法 | 第45-47页 |
2.6 验证实验 | 第47-55页 |
2.6.1 验证基于条纹特征分析算法的有效性 | 第48-51页 |
2.6.2 验证基于多次定步长相移算法的有效性 | 第51-55页 |
2.7 本章小结 | 第55-57页 |
第3章 投影云纹技术的研究 | 第57-75页 |
3.1 引言 | 第57-63页 |
3.1.1 应用背景 | 第57页 |
3.1.2 技术背景 | 第57-59页 |
3.1.3 几何云纹 | 第59-63页 |
3.2 投影云纹系统 | 第63-69页 |
3.2.1 可行性分析 | 第63页 |
3.2.2 测量原理 | 第63-65页 |
3.2.3 移动最小二乘的曲面拟合方法 | 第65-69页 |
3.2.3.1 拟合函数的建立 | 第65-66页 |
3.2.3.2 权函数 | 第66-67页 |
3.2.3.3 与最小二乘法的关系 | 第67-68页 |
3.2.3.4 拟合实例 | 第68-69页 |
3.3 测试实验 | 第69-73页 |
3.4 本章小结 | 第73-75页 |
第4章 高分辨率、大量程的离面位移检测方法研究 | 第75-105页 |
4.1 背景介绍 | 第76页 |
4.2 工作原理 | 第76-90页 |
4.2.1 光的干涉原理 | 第76-80页 |
4.2.1.1 光的干涉和相干条件 | 第76-79页 |
4.2.1.2 光源对光干涉的影响 | 第79页 |
4.2.1.3 位相差的判据与光程差判据 | 第79-80页 |
4.2.2 迈克尔逊干涉仪 | 第80-81页 |
4.2.3 压电陶瓷器工作原理 | 第81-82页 |
4.2.4 跟踪算法 | 第82-90页 |
4.2.4.1 识别位移方向 | 第83-86页 |
4.2.4.2 识别位移大小 | 第86-88页 |
4.2.4.3 跟踪策略 | 第88-90页 |
4.3 对漫反射表面测量的跟踪实验 | 第90-96页 |
4.3.1 ESPI测量系统工作原理 | 第90-92页 |
4.3.2 系统组成 | 第92-94页 |
4.3.3 测试实验 | 第94-96页 |
4.3.4 对ESPI测量系统的讨论 | 第96页 |
4.4 基于镜面干涉测量的跟踪实验 | 第96-103页 |
4.4.1 镜面干涉测量系统工作原理 | 第96-97页 |
4.4.2 系统组成 | 第97页 |
4.4.3 测试实验 | 第97-101页 |
4.4.4 对镜面干涉测量系统的讨论 | 第101-103页 |
4.5 本章小结 | 第103-105页 |
第5章 总结与展望 | 第105-107页 |
5.1 全文总结 | 第105页 |
5.2 工作展望 | 第105-107页 |
参考文献 | 第107-117页 |
攻读博士学位期间作者发表的论文 | 第117-119页 |
致谢 | 第119-120页 |