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大温变条件下QFP器件组装焊点可靠性研究

摘要第4-5页
ABSTRACT第5-6页
第1章 绪论第9-19页
    1.1 课题背景和意义第9-11页
    1.2 国内外研究现状第11-18页
        1.2.1 钎料低温性能研究现状第11-13页
        1.2.2 极端环境下电子器件可靠性研究现状第13-15页
        1.2.3 IMC生长的研究第15-18页
        1.2.4 国内外研究现状小结第18页
    1.3 本文主要研究内容第18-19页
第2章 实验材料与方法第19-29页
    2.1 实验方案第19页
    2.2 实验材料第19-21页
    2.3 实验方法与设备第21-27页
        2.3.1 QFP焊接方法和设备第21-24页
        2.3.2 温度冲击实验方法和设备第24-25页
        2.3.3 拉伸实验方法和设备第25页
        2.3.4 QFP引脚力学性能测试方法和设备第25-27页
    2.4 试验结果分析第27-28页
        2.4.1 断口及剖面显微组织观察第27页
        2.4.2 组织成分分析第27-28页
    2.5 本章小结第28-29页
第3章 Sn63Pb37、SAC305钎料拉伸力学性能及断裂模式分析第29-47页
    3.1 引言第29页
    3.2 钎料力学性能分析第29-37页
        3.2.1 Sn63Pb37钎料拉伸力学性能分析第29-32页
        3.2.2 SAC305钎料拉伸力学性能分析第32-36页
        3.2.3 Sn63Pb37与SAC305材料性能比较第36-37页
    3.3 钎料拉伸断口及断裂模式分析第37-44页
        3.3.1 Sn63Pb37断口分析第37-40页
        3.3.2 SAC305断口分析第40-44页
    3.4 极限环境下的钎料组织演变第44-46页
        3.4.1 Sn63Pb37钎料组织的演变第44-45页
        3.4.2 SAC305钎料组织的演变第45-46页
    3.5 本章小结第46-47页
第4章 QFP引脚力学性能研究第47-63页
    4.1 引言第47页
    4.2 QFP引脚力学性能测试第47-50页
        4.2.1 测试结果第47-48页
        4.2.2 结果分析第48-50页
    4.3 引脚断口分析第50-61页
        4.3.1 Sn63Pb37钎料引脚断口分析第50-56页
        4.3.2 SAC305钎料引脚断口分析第56-61页
    4.4 本章小结第61-63页
第5章 引脚焊点剖面分析及金属间化合物生长规律第63-83页
    5.1 引言第63页
    5.2 焊点剖面分析第63-71页
        5.2.1 Sn63Pb37焊点剖面分析结果第63-68页
        5.2.2 SAC305焊点剖面分析结果第68-71页
    5.3 金属间化合物的生长行为第71-81页
        5.3.1 Cu原子扩散行为分析第71-73页
        5.3.2 Sn63Pb37焊点内IMC演变情况第73-77页
        5.3.3 SAC305焊点内IMC演变情况第77-80页
        5.3.4 ENIG焊盘对IMC生长的抑制作用第80-81页
    5.4 本章小结第81-83页
结论第83-84页
参考文献第84-89页
致谢第89页

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