| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-17页 |
| 1.1 课题研究背景 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第11-13页 |
| 1.3 存在的问题 | 第13-14页 |
| 1.4 本文的研究目标与工作 | 第14页 |
| 1.5 论文的组织结构 | 第14-17页 |
| 第二章 研究基础 | 第17-30页 |
| 2.1 并发程序缺陷检测技术 | 第17-18页 |
| 2.2 序列模式挖掘 | 第18-26页 |
| 2.2.1 序列模式挖掘相关领域 | 第18页 |
| 2.2.2 序列模式挖掘相关术语 | 第18-22页 |
| 2.2.3 序列模式挖掘一般流程 | 第22-23页 |
| 2.2.4 序列模式挖掘经典算法 | 第23-26页 |
| 2.3 基于动态偏序化简的并发程序调度 | 第26-28页 |
| 2.4 面向方面编程相关理论 | 第28-29页 |
| 2.4.1 模块化横切关注点 | 第28页 |
| 2.4.2 AOP的接入点模型 | 第28-29页 |
| 2.5 本章小结 | 第29-30页 |
| 第三章 基于序列模式挖掘的并发程序缺陷检测框架设计 | 第30-33页 |
| 3.1 引言 | 第30页 |
| 3.2 基于序列模式挖掘的并发程序缺陷检测的技术框架 | 第30-32页 |
| 3.3 本章小结 | 第32-33页 |
| 第四章 并发程序执行序列获取 | 第33-40页 |
| 4.1 问题描述 | 第33页 |
| 4.2 基于动态标记迁移的并发程序调度 | 第33-36页 |
| 4.3 基于AOP的轨迹信息获取 | 第36-37页 |
| 4.4 程序执行结果的获取 | 第37-38页 |
| 4.5 相关工作对比 | 第38-39页 |
| 4.6 本章小结 | 第39-40页 |
| 第五章 并发程序缺陷检测 | 第40-51页 |
| 5.1 问题描述 | 第40页 |
| 5.2 相关定义 | 第40页 |
| 5.3 缺陷模式的表示 | 第40-43页 |
| 5.4 挖掘缺陷模式 | 第43-49页 |
| 5.5 相关工作对比 | 第49-50页 |
| 5.6 本章小结 | 第50-51页 |
| 第六章 实验结果及分析 | 第51-58页 |
| 6.1 数据集来源 | 第51页 |
| 6.2 针对并发程序序列获取的实验 | 第51-54页 |
| 6.3 针对并发程序缺陷检测的实验 | 第54-57页 |
| 6.4 实验总结 | 第57-58页 |
| 第七章 总结和展望 | 第58-60页 |
| 7.1 本文工作的总结 | 第58-59页 |
| 7.2 进一步的研究工作 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-64页 |
| 校期间参加的科研项目和发表的论文 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |