| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-9页 |
| 1 绪论 | 第9-18页 |
| ·论文研究的目的和意义 | 第9-11页 |
| ·国内外研究现状 | 第11-16页 |
| ·交、直流污闪特性差异 | 第11-12页 |
| ·直流污闪特性与串长的关系 | 第12页 |
| ·高海拔直流绝缘子的污闪特性 | 第12-14页 |
| ·直流人工污秽试验方法 | 第14-15页 |
| ·长棒形瓷绝缘子的研究现状 | 第15-16页 |
| ·论文研究的主要内容 | 第16-18页 |
| 2 试验装置及方法 | 第18-26页 |
| ·试验装置 | 第18-20页 |
| ·试品 | 第20-22页 |
| ·试验方法 | 第22-25页 |
| ·染污 | 第22-23页 |
| ·加压方式 | 第23-24页 |
| ·试验步骤 | 第24-25页 |
| ·本章小结 | 第25-26页 |
| 3 高海拔长棒形瓷绝缘子直流污闪特性研究 | 第26-46页 |
| ·三类绝缘子直流污闪特性对比 | 第26-30页 |
| ·三类绝缘子的直流人工污秽试验结果 | 第26-28页 |
| ·三类绝缘子的直流污闪特性比较 | 第28-30页 |
| ·伞形结构的影响 | 第30-32页 |
| ·吨位的影响 | 第32-34页 |
| ·并联间距的影响 | 第34-35页 |
| ·长棒形瓷绝缘子双串并联直流污闪特性 | 第34-35页 |
| ·盘型瓷绝缘子双串并联直流污闪特性对比 | 第35页 |
| ·耐张布置方式的影响 | 第35-38页 |
| ·上、下表面不均匀染污的影响 | 第38-42页 |
| ·长棒形瓷绝缘子上、下表面不均匀染污试验结果 | 第38-41页 |
| ·钟罩型盘型瓷绝缘子上、下表面不均匀染污研究结果对比 | 第41-42页 |
| ·串长的影响 | 第42-44页 |
| ·本章小结 | 第44-46页 |
| 4 杆径涂覆H-PRTV的影响 | 第46-54页 |
| ·试验结果 | 第46-48页 |
| ·电弧发展过程 | 第48-50页 |
| ·临闪泄漏电流分析 | 第50-51页 |
| ·污秽闪络时间统计 | 第51-52页 |
| ·本章小结 | 第52-54页 |
| 5 泄漏电流分析 | 第54-58页 |
| ·三类绝缘子耐受情况下泄漏电流对比 | 第54-55页 |
| ·长棒形瓷绝缘子耐受状态下泄漏电流脉冲数统计 | 第55-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 6 结论 | 第58-60页 |
| 参考文献 | 第60-63页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第63-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |
| 答辩委员会对论文的评定意见 | 第65页 |