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双向过压保护器件的设计与实现

摘要第4-5页
Abstract第5页
第1章 绪论第8-12页
    1.1 半导体抗浪涌保护器件研发背景第8-9页
    1.2 半导体抗浪涌保护器件的分类第9-10页
        1.2.1 电压限幅型保护器件第9页
        1.2.2 电压开关型保护器件第9-10页
    1.3 国内外发展概况第10-11页
        1.3.1 国外发展概况第10页
        1.3.2 国内发展概况第10-11页
    1.4 本文的研究内容和结构第11-12页
第2章 电压开关型晶闸管保护器件的工作原理第12-22页
    2.1 晶闸管概况第12页
    2.2 晶闸管工作原理第12-17页
        2.2.1 正向高阻区和转折区第12-14页
        2.2.2 正向导通第14-16页
        2.2.3 器件关断第16页
        2.2.4 反向阻断第16-17页
    2.3 阴极短路结构第17-20页
        2.3.1 阴极短路模型第17-18页
        2.3.2 阴极短路对晶闸管参数影响第18-20页
    2.4 本章小结第20-22页
第3章 器件的结构设计与计算机仿真验证第22-42页
    3.1 P08A系列产品概况第22-24页
        3.1.1 P08A系列产品工作原理第22-23页
        3.1.2 P08A系列产品参数指标第23-24页
    3.2 器件纵向结构设计和实施方案第24-27页
        3.2.1 器件纵向结构第24-26页
        3.2.2 实施方案第26-27页
    3.3 器件的版图设计与DRC第27-33页
        3.3.1 版图设计软件简介第27-28页
        3.3.2 版图设计第28-30页
        3.3.3 DRC第30-33页
    3.4 器件结构的计算机仿真验证第33-40页
        3.4.1 TCAD软件工具简介第33-34页
        3.4.2 软件模拟仿真过程第34-38页
        3.4.3 TCAD仿真的输出结果第38-40页
    3.5 本章小结第40-42页
第4章 保护器件的工艺实现过程第42-54页
    4.1 芯片级工艺实现第42-45页
    4.2 关键参数控制第45-47页
        4.2.1 IH的控制第45-46页
        4.2.2 VBR的控制第46页
        4.2.3 CO的控制第46-47页
    4.3 封装级工艺实现过程第47-52页
    4.4 本章小结第52-54页
第5章 流片结果分析及改进第54-60页
    5.1 流片结果分析第54-56页
    5.2 与国外样品对比参数第56-58页
        5.2.1 静态参数比较第56-58页
        5.2.2 浪涌能力比较第58页
    5.3 本章小结第58-60页
结论第60-62页
参考文献第62-66页
附录第66-70页
致谢第70页

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