基于近场散射的颗粒粒度测量方法研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-18页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第9页 |
| 1.2 颗粒粒径测量技术的研究现状 | 第9-13页 |
| 1.2.1 筛分法 | 第10-11页 |
| 1.2.2 光学成像法 | 第11页 |
| 1.2.3 沉降法 | 第11页 |
| 1.2.4 电感应法 | 第11-12页 |
| 1.2.5 光散射法 | 第12-13页 |
| 1.3 光散射颗粒粒径测量技术的研究现状 | 第13-17页 |
| 1.3.1 静态光散射颗粒粒度测量技术 | 第13-15页 |
| 1.3.2 动态光散射法颗粒粒度测量技术 | 第15-16页 |
| 1.3.3 光散射颗粒粒度测量技术存在的主要问题 | 第16-17页 |
| 1.4 本文的主要研究内容及组织结构 | 第17-18页 |
| 第二章 基于近场散射的颗粒粒径测量原理 | 第18-30页 |
| 2.1 近场散射基本理论 | 第18-21页 |
| 2.1.1 近场散射概念 | 第18页 |
| 2.1.2 功率谱与散射光强的关系 | 第18-21页 |
| 2.2 近场散射颗粒粒径测量原理 | 第21-23页 |
| 2.3 Mie散射理论及光强计算 | 第23-28页 |
| 2.3.1 基本理论 | 第23-25页 |
| 2.3.2 Mie散射光强的数值计算 | 第25-26页 |
| 2.3.3 Mie散射光强分布规律 | 第26-28页 |
| 2.4 本章小结 | 第28-30页 |
| 第三章 颗粒粒径反演算法及仿真 | 第30-41页 |
| 3.1 颗粒群的粒径分布函数 | 第30-31页 |
| 3.2 颗粒粒径的一般反演算法 | 第31-33页 |
| 3.2.1 非独立模式算法 | 第31-32页 |
| 3.2.2 独立模式算法 | 第32-33页 |
| 3.3 Chahine颗粒粒径反演算法优化 | 第33-40页 |
| 3.3.1 正则化思想 | 第33-34页 |
| 3.3.2 正则化参数选择策略 | 第34-35页 |
| 3.3.3 非负约束条件 | 第35-36页 |
| 3.3.4 Chahine算法优化与仿真 | 第36-40页 |
| 3.4 本章小结 | 第40-41页 |
| 第四章 近场散射颗粒粒径测量系统的设计 | 第41-49页 |
| 4.1 光路系统 | 第41页 |
| 4.2 光源系统 | 第41-44页 |
| 4.2.1 激光器 | 第41-42页 |
| 4.2.2 空间滤波器与准直扩束 | 第42-44页 |
| 4.3 样品区 | 第44-45页 |
| 4.4 图像采集计算系统 | 第45-48页 |
| 4.4.1 显微物镜 | 第45-46页 |
| 4.4.2 CCD图像传感器 | 第46-48页 |
| 4.5 本章小结 | 第48-49页 |
| 第五章 近场散射颗粒粒径测量的实验研究 | 第49-59页 |
| 5.1 近场图像的处理 | 第49-55页 |
| 5.1.1 杂散光影响的消除 | 第49-51页 |
| 5.1.2 远场散射强度的获取 | 第51-55页 |
| 5.2 实验结果与讨论 | 第55-57页 |
| 5.2.1 单峰分布颗粒系溶液 | 第56-57页 |
| 5.2.2 双峰分布颗粒系溶液 | 第57页 |
| 5.3 本章小结 | 第57-59页 |
| 第六章 总结与展望 | 第59-61页 |
| 6.1 总结 | 第59页 |
| 6.2 展望 | 第59-61页 |
| 致谢 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-66页 |
| 作者简介 | 第66页 |
