| 摘要 | 第10-13页 |
| ABSTRACT | 第13-16页 |
| 第一章 绪论 | 第17-28页 |
| 1.1 引言 | 第17页 |
| 1.2 非线性光学晶体 | 第17-19页 |
| 1.2.1 非线性光学现象 | 第17-18页 |
| 1.2.2 二阶非线性光学晶体概述 | 第18-19页 |
| 1.3 Jahn-Teller效应与新型非线性光学晶体 | 第19-26页 |
| 1.3.1 Jahn-Teller效应发展历程 | 第19页 |
| 1.3.2 二阶Jahn-Teller效应和非中心对称结构 | 第19-22页 |
| 1.3.3 基于二阶Jahn-Teller效应的含碲钼(钨)酸盐晶体研究进展 | 第22-26页 |
| 1.4 选题的意义、目的和主要研究内容 | 第26-28页 |
| 第二章 Cs_2TeMo_3O_(12)(CTM)晶体的缺陷及生长机理探索 | 第28-36页 |
| 2.1 引言 | 第28页 |
| 2.2 晶体的宏观缺陷 | 第28-31页 |
| 2.2.1 应力开裂和包裹体 | 第28-30页 |
| 2.2.2 负晶和添晶 | 第30-31页 |
| 2.3 CTM晶体的化学腐蚀法 | 第31-32页 |
| 2.4 CTM晶体(0002)面生长机理探索 | 第32-34页 |
| 2.5 本章小结 | 第34-36页 |
| 第三章 Cs_2TeW_3O_(12)(CTW)晶体的生长 | 第36-52页 |
| 3.1 引言 | 第36页 |
| 3.2 粉末的固相合成 | 第36-37页 |
| 3.3 粉末的热分析 | 第37-38页 |
| 3.4 助熔剂法简介 | 第38-41页 |
| 3.5 晶体生长 | 第41-47页 |
| 3.5.1 晶体生长炉 | 第41-42页 |
| 3.5.2 晶体生长炉内温度梯度 | 第42-43页 |
| 3.5.3 助熔剂的确定 | 第43-45页 |
| 3.5.4 自发结晶 | 第45-46页 |
| 3.5.5 籽晶生长 | 第46-47页 |
| 3.6 晶体生长参数优化 | 第47-51页 |
| 3.6.1 降温速率 | 第47-48页 |
| 3.6.2 籽晶的转速 | 第48-49页 |
| 3.6.3 籽晶方向 | 第49页 |
| 3.6.4 溶液粘度 | 第49-51页 |
| 3.7 本章小结 | 第51-52页 |
| 第四章 CTW晶体的基本性质 | 第52-69页 |
| 4.1 引言 | 第52页 |
| 4.2 单晶结构解析 | 第52-55页 |
| 4.3 单晶结构讨论 | 第55-56页 |
| 4.4 密度测试 | 第56-57页 |
| 4.5 硬度测试 | 第57-59页 |
| 4.6 热学性能 | 第59-64页 |
| 4.6.1 比热 | 第59-60页 |
| 4.6.2 热膨胀系数 | 第60-61页 |
| 4.6.3 热扩散和热导率 | 第61-63页 |
| 4.6.4 晶体结构与热学各向异性的关系 | 第63-64页 |
| 4.7 晶体质量表征 | 第64-67页 |
| 4.7.1 高分辨X射线衍射 | 第64-65页 |
| 4.7.2 化学稳定性 | 第65-67页 |
| 4.8 本章小结 | 第67-69页 |
| 第五章 CTW晶体的光学性能 | 第69-85页 |
| 5.1 引言 | 第69页 |
| 5.2 线性光学性能 | 第69-74页 |
| 5.2.1 透过范围 | 第69-70页 |
| 5.2.2 折射率 | 第70-74页 |
| 5.3 非线性光学性能 | 第74-82页 |
| 5.3.1 相位匹配 | 第74页 |
| 5.3.2 相位匹配的条件 | 第74-76页 |
| 5.3.3 粉末倍频测试 | 第76-77页 |
| 5.3.4 CTW晶体的二阶非线性光学系数 | 第77-78页 |
| 5.3.5 旋转马克条纹法测试晶体的非线性光学系数 | 第78-80页 |
| 5.3.6 晶体有效非线性光学系数的计算 | 第80-82页 |
| 5.4 晶体结构与非线性光学性能的关系 | 第82-84页 |
| 5.5 本章小结 | 第84-85页 |
| 第六章 CTW晶体的压电性能 | 第85-101页 |
| 6.1 引言 | 第85页 |
| 6.2 压电晶体物理参数介绍 | 第85-89页 |
| 6.2.1 胡克定律与弹性常数 | 第85-86页 |
| 6.2.2 介电常数 | 第86-87页 |
| 6.2.3 压电常数和压电方程 | 第87-88页 |
| 6.2.4 机电耦合系数 | 第88-89页 |
| 6.3 压电介电弹性性能测试 | 第89-96页 |
| 6.3.1 测试方法介绍 | 第89-90页 |
| 6.3.2 样品切型设计 | 第90-92页 |
| 6.3.3 实验结果 | 第92-96页 |
| 6.4 压电性能与晶体结构的关系 | 第96-99页 |
| 6.4.1 基团偶极矩计算 | 第96-99页 |
| 6.5 本章小结 | 第99-101页 |
| 第七章 总结与展望 | 第101-107页 |
| 7.1 主要结论 | 第101-105页 |
| 7.1.1 CTM晶体的缺陷及生长机理 | 第101页 |
| 7.1.2 CTW晶体生长 | 第101-102页 |
| 7.1.3 CTW晶体的基本性质 | 第102-103页 |
| 7.1.4 CTW晶体的结构与性能关系 | 第103-105页 |
| 7.2 主要创新点 | 第105页 |
| 7.3 有待深入研究的内容 | 第105-107页 |
| 参考文献 | 第107-114页 |
| 攻读学位期间的学术论文 | 第114-115页 |
| 攻读学位期间所获的奖励 | 第115页 |
| 攻读学位期间参加的会议 | 第115-116页 |
| 致谢 | 第116-118页 |
| 附录 | 第118-133页 |
| 学位论文评阅及答辩情况表 | 第133页 |
