基于MIE散射的微粒粒径测量的研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| abstract | 第4-8页 |
| 1 绪论 | 第8-12页 |
| ·研究的背景、意义 | 第8-9页 |
| ·微粒粒径测量技术概述 | 第9页 |
| ·微粒粒径测量的研究现状及发展趋势 | 第9-10页 |
| ·研究现状 | 第9-10页 |
| ·发展趋势 | 第10页 |
| ·本文的主要工作 | 第10-12页 |
| 2 光散射法测量的基本原理 | 第12-25页 |
| ·光散射概述 | 第12-13页 |
| ·不相关散射与相关散射 | 第12页 |
| ·单散射与复散射 | 第12-13页 |
| ·微粒的光散射理论 | 第13页 |
| ·Mie散射理论 | 第13-24页 |
| ·Mie散射的基本理论 | 第13-17页 |
| ·Mie散射的近似 | 第17-18页 |
| ·Mie散射计算 | 第18-23页 |
| ·微粒群的Mie散射光强计算 | 第23-24页 |
| ·本章小结 | 第24-25页 |
| 3 微粒的散射光能分布 | 第25-35页 |
| ·微粒的散射光分布仿真 | 第25-29页 |
| ·辐射强度角分布仿真 | 第25-28页 |
| ·微粒的散射光强角分布 | 第28-29页 |
| ·散射光能分布的探测 | 第29-34页 |
| ·探测器尺寸的计算 | 第29-32页 |
| ·散射光能的探测仿真 | 第32-34页 |
| ·本章小结 | 第34-35页 |
| 4 粒径测量反演算法研究 | 第35-50页 |
| ·引言 | 第35-36页 |
| ·约束反演算法 | 第36-37页 |
| ·Rosin-Rammler单峰分布反演算法 | 第36-37页 |
| ·Rosin-Rammler多峰分布反演算法 | 第37页 |
| ·非约束反演算法 | 第37-40页 |
| ·迭代Chahine反演算法 | 第37-38页 |
| ·迭代Tikhonov正则化反演算法 | 第38-39页 |
| ·TSVD非负反演算法 | 第39-40页 |
| ·模拟反演结果分析 | 第40-47页 |
| ·无噪声情况下的反演结果分析 | 第40-43页 |
| ·有噪声情况下的反演结果分析 | 第43-47页 |
| ·测量误差分析与算法改进 | 第47-49页 |
| ·测量误差分析 | 第47-48页 |
| ·平滑算法改进 | 第48-49页 |
| ·本章小结 | 第49-50页 |
| 5 微粒测量实验与结果分析 | 第50-64页 |
| ·实验装置 | 第50-51页 |
| ·仿真实验 | 第51-61页 |
| ·R-R约束算法反演结果 | 第52-55页 |
| ·非约束迭代Tikhonov正则化算法的反演 | 第55-58页 |
| ·非约束非负TSVD算法的反演 | 第58-61页 |
| ·激光测量平台实验与结果分析 | 第61-63页 |
| ·本章小结 | 第63-64页 |
| 6 总结与展望 | 第64-66页 |
| ·工作总结 | 第64页 |
| ·未来展望 | 第64-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-70页 |
| 附录 | 第70页 |
