摘要 | 第1-6页 |
ABSTRACT | 第6-9页 |
第一章 绪论 | 第9-18页 |
·研究背景及意义 | 第9-11页 |
·国内外研究进展 | 第11-16页 |
·国外对水果品质无损检测的研究 | 第12-14页 |
·国内对水果品质无损检测的研究 | 第14-16页 |
·研究目标、内容和方法 | 第16-17页 |
·研究目标 | 第16页 |
·研究内容 | 第16页 |
·研究方法 | 第16-17页 |
·小结 | 第17-18页 |
第二章 机器视觉系统总体设计及搭建 | 第18-25页 |
·系统硬件组成 | 第18-23页 |
·相机 | 第18-19页 |
·图像采集卡 | 第19-20页 |
·光照系统 | 第20-23页 |
·计算机设备 | 第23页 |
·系统调试 | 第23-24页 |
·小结 | 第24-25页 |
第三章 基于机器视觉的香梨颜色分级 | 第25-37页 |
·实验准备 | 第25页 |
·图像预处理 | 第25-31页 |
·特征参量选取 | 第25-26页 |
·背景分割 | 第26-29页 |
·噪音去除 | 第29-30页 |
·特征提取 | 第30-31页 |
·分级方法研究 | 第31-36页 |
·基于数据信息的颜色分级 | 第31-32页 |
·基于BP神经网络的香梨颜色分级 | 第32-34页 |
·基于RBF神经网络的香梨颜色分级 | 第34-36页 |
·小结 | 第36-37页 |
第四章 香梨轻微碰伤模拟及检测 | 第37-44页 |
·香梨轻微损检测的意义 | 第37页 |
·香梨轻微碰伤装置设计 | 第37-38页 |
·实验样本准备 | 第38页 |
·撞击力测定 | 第38-40页 |
·碰伤力与检测结果的关系 | 第40-42页 |
·图像预处理 | 第40-41页 |
·碰伤区域提取 | 第41-42页 |
·检测结果分析 | 第42页 |
·小结 | 第42-44页 |
第五章 基于高光谱成像技术的香梨轻微碰伤检测 | 第44-64页 |
·高光谱系统组成 | 第44-47页 |
·高光谱成像仪 | 第45-46页 |
·光源 | 第46页 |
·电移台 | 第46页 |
·软件 | 第46-47页 |
·样本介绍及采集 | 第47-48页 |
·高光谱数据降维 | 第48-57页 |
·主成分分析法 | 第48-53页 |
·独立分量分析法 | 第53-57页 |
·降维结果比较 | 第57页 |
·碰伤区域提取 | 第57-62页 |
·第四主成分图像的碰伤区域提取 | 第57-58页 |
·寻找香梨碰伤的特征波长并提取碰伤区域 | 第58-61页 |
·第四独立分量图像的碰伤区域提取 | 第61-62页 |
·检测结果比较 | 第62-63页 |
·主成分分析法和独立分量分析法在香梨碰伤检测的比较 | 第62-63页 |
·基于高光谱图像和彩色图像的碰伤检测比较 | 第63页 |
·小结 | 第63-64页 |
第六章 结论及展望 | 第64-66页 |
·结论 | 第64页 |
·展望 | 第64-66页 |
参考文献 | 第66-70页 |
致谢 | 第70-71页 |
作者简介 | 第71-72页 |
导师评阅表 | 第72页 |