白光干涉的信号解调与处理的若干实用化技术研究
摘要 | 第1-6页 |
ABSTRACT | 第6-11页 |
第1章 绪论 | 第11-16页 |
·课题的目的及意义 | 第11-12页 |
·国内外研究现状 | 第12-14页 |
·时域光程扫描技术 | 第12-13页 |
·谱域光程扫描技术 | 第13页 |
·频域光程扫描技术 | 第13-14页 |
·课题的研究内容 | 第14-16页 |
第2章 白光干涉原理及其测量系统 | 第16-27页 |
·部分相干光理论 | 第16-19页 |
·部分相干光的复数表示 | 第16页 |
·光强与功率谱密度 | 第16-17页 |
·光束的关联函数 | 第17-19页 |
·白光干涉应变测量原理 | 第19-20页 |
·光纤白光干涉仪 | 第20-21页 |
·光纤应变测量的光路结构分析 | 第21-25页 |
·光程匹配分析 | 第21-23页 |
·干涉信号强度分析 | 第23-25页 |
·传感复用技术 | 第25-26页 |
·本章小结 | 第26-27页 |
第3章 高精度光学扫描方法与实现 | 第27-39页 |
·光程时域扫描方法 | 第27-29页 |
·扫描方法简介 | 第27-28页 |
·系统扫描方法的选择 | 第28-29页 |
·高精度光学延迟线 | 第29-31页 |
·高精度光栅尺位置信号获取算法 | 第31-34页 |
·正切查表插值细分法 | 第31-32页 |
·细分算法程序设计 | 第32-34页 |
·扫描台控制与位移实验 | 第34-38页 |
·扫描台运动线性度实验 | 第34-37页 |
·扫描台重复定位精度实验 | 第37-38页 |
·本章小结 | 第38-39页 |
第4章 白光应变测量系统的硬件设计与实现 | 第39-53页 |
·系统硬件需求 | 第39-40页 |
·基于STM32F103系列单片机的系统 | 第40-42页 |
·STM32F103ZET6的优点 | 第41页 |
·STM32构成测量系统 | 第41-42页 |
·A/D、D/A的设计 | 第42-44页 |
·A/D前端输入通道的设计 | 第42-44页 |
·D/A设计 | 第44页 |
·数据存储电路设计 | 第44-46页 |
·静态存储器控制器简介 | 第44页 |
·SRAM电路设计 | 第44-45页 |
·NAND闪存电路设计 | 第45-46页 |
·步进电机控制电路 | 第46-47页 |
·显示与人机接口设计 | 第47-48页 |
·液晶的选择 | 第47页 |
·键盘的设计 | 第47-48页 |
·应变仪网络化控制与实现 | 第48-49页 |
·白光干涉信号测量实验 | 第49-52页 |
·干涉信号的采集实验 | 第51-52页 |
·干涉信号重复定位精度实验 | 第52页 |
·本章小结 | 第52-53页 |
第5章 测量系统的软件设计与实现 | 第53-63页 |
·测量功能及其关系框图 | 第53-54页 |
·信号处理算法实现 | 第54-56页 |
·LCD显示的设计与实现 | 第56-57页 |
·数据存储与调用的实现 | 第57-60页 |
·网络化控制与实现 | 第60-62页 |
·本章小结 | 第62-63页 |
第6章 白光干涉应变测量系统的实验研究与结果分析 | 第63-73页 |
·传感器形变/应变测量实验 | 第63-64页 |
·实验装置 | 第63页 |
·实验结果及分析 | 第63-64页 |
·系统温度特性实验 | 第64-72页 |
·实验方案 | 第64-65页 |
·试验结果及分析 | 第65-69页 |
·温度补偿方案及测量结果 | 第69-72页 |
·本章小结 | 第72-73页 |
结论 | 第73-74页 |
参考文献 | 第74-78页 |
攻读硕士学位期间发表的论文和取得的科研成果 | 第78-79页 |
致谢 | 第79-80页 |
附录 | 第80页 |