| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-7页 |
| 目录 | 第7-9页 |
| 1 引言 | 第9-27页 |
| ·国内外相关研究成果评述 | 第11-20页 |
| ·本论文的研究意义及主要研究内容 | 第20-25页 |
| 参考文献 | 第25-27页 |
| 2 成像光谱仪基本方案选取 | 第27-39页 |
| ·成像光谱仪类型的选取 | 第27-28页 |
| ·紫外光学材料的选取 | 第28-30页 |
| ·紫外面阵探测器件的选取及性能 | 第30-35页 |
| ·本章小结 | 第35-36页 |
| 参考文献 | 第36-39页 |
| 3 成像光谱仪的信噪比估算 | 第39-49页 |
| ·机载成像光谱仪的信号分析和模拟 | 第39-42页 |
| ·成像光谱仪的信噪比分析和估算 | 第42-45页 |
| ·本章小结 | 第45-47页 |
| 参考文献 | 第47-49页 |
| 4 光栅成像光谱仪光学系统设计基础理论 | 第49-77页 |
| ·光栅成像光谱仪的主要特征参量 | 第50-53页 |
| ·光栅的角色散和光谱仪的线色散 | 第50-51页 |
| ·光栅的角放大率和光谱仪的横向放大率 | 第51-52页 |
| ·光栅成像光谱仪的光谱分辨本领 | 第52-53页 |
| ·光栅的自由光谱范围 | 第53页 |
| ·光学系统的像差及像质评价 | 第53-68页 |
| ·光学系统的像差 | 第53-65页 |
| ·光学系统的像质评价和公差容限 | 第65-68页 |
| ·平面光栅光谱仪的像差要求及结构选取 | 第68-73页 |
| ·平面光栅光谱仪的像差要求 | 第68-71页 |
| ·常见的平面光栅光谱仪的结构选取 | 第71-73页 |
| ·本章小结 | 第73-75页 |
| 参考文献 | 第75-77页 |
| 5 切尔尼-特纳光栅成像光谱仪光学系统设计 | 第77-129页 |
| ·系统整体方案设计 | 第77页 |
| ·系统总体光学参数的确定 | 第77-78页 |
| ·狭缝宽度为单个像素宽度的光学系统设计 | 第78-119页 |
| ·32mm 焦距望远物镜设计 | 第78-84页 |
| ·Czerny-Turner 成像光谱系统设计基础理论 | 第84-104页 |
| ·1:1Czerny-Turner 成像光谱系统设计 | 第104-111页 |
| ·16mm 焦距望远物镜设计 | 第111-114页 |
| ·1:2Czerny-Turner 成像光谱系统设计 | 第114-119页 |
| ·光栅成像光谱仪全系统设计 | 第119-124页 |
| ·本章小结 | 第124-126页 |
| 参考文献 | 第126-129页 |
| 6 结论与展望 | 第129-133页 |
| ·主要研究成果与创新 | 第131-132页 |
| ·尚难解决的问题和进一步工作的设想和建议 | 第132-133页 |
| 作者简介及在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第133-134页 |
| 致谢 | 第134页 |
