致谢 | 第1-7页 |
摘要 | 第7-9页 |
Abstract | 第9-14页 |
第一章 引言 | 第14-24页 |
·短寿命原子核质量测量的实验动机 | 第14-17页 |
·短寿命原子核的产生和分离 | 第17-20页 |
·质量测量方法 | 第20-24页 |
第二章 储存环质量谱仪实验原理 | 第24-34页 |
·加速器物理基础 | 第24-25页 |
·储存环的色散函数与动量压缩因子 | 第24-25页 |
·离子在储存环中回旋周期 | 第25页 |
·储存环质量谱仪原理 | 第25-34页 |
·肖特基质量谱仪原理 | 第26-28页 |
·等时性质量谱仪原理 | 第28-30页 |
·影响储存环质谱仪分辨力的因素 | 第30-34页 |
第三章 实验装置 | 第34-48页 |
·使用碎片分离器产生和分离放射性核素 | 第34-36页 |
·实验储存环ESR | 第36-41页 |
·离子的注入、储存和冷却 | 第37页 |
·肖特基信号探测和数据获取系统 | 第37-41页 |
·实验储存环CSRe | 第41-48页 |
·储存环等时性质谱仪实验步骤 | 第42-43页 |
·飞行时间(TOF)探测器和数据获取系统 | 第43-48页 |
第四章 ESR上152Sm碎片质量测量实验 | 第48-78页 |
·实验概要 | 第48-49页 |
·数据分析 | 第49-57页 |
·离子回旋频率的确定 | 第49-52页 |
·时间分辨的肖特基频谱 | 第52-54页 |
·离子鉴别 | 第54-57页 |
·质量评估 | 第57-64页 |
·ESR的动量压缩因子 | 第57-61页 |
·质量刻度 | 第61-62页 |
·从不同频谱获得的质量结果合并 | 第62-63页 |
·电荷相关性的修正 | 第63-64页 |
·结果 | 第64-78页 |
·系统误差分析 | 第64-78页 |
第五章 CSRe上58Ni碎片质量测量实验 | 第78-98页 |
·实验概述 | 第78-79页 |
·数据处理 | 第79-91页 |
·离子回旋时间的确定:恒分定时 | 第80-85页 |
·粒子鉴别 | 第85-86页 |
·修正磁场晃动带来的影响 | 第86-91页 |
·对离子回旋时间谱进行质量刻度 | 第91-94页 |
·等时性区间和质量刻度 | 第92-94页 |
·误差分析 | 第94-98页 |
·系统误差分析 | 第94页 |
·不同修正方法对最终质量值的影响 | 第94-98页 |
第六章 结果讨论 | 第98-102页 |
·4~5Cr质量及其对X射线暴中Ca-Sc循环的影响 | 第98-102页 |
第七章 总结展望 | 第102-104页 |
附录 A 离子在储存环中的横向运动 | 第104-110页 |
附录 B 58~Ni碎裂反应中45Cr同质异能态的产生比例 | 第110-112页 |
附录 C 最小二乘法拟合:线性回归 | 第112-114页 |
附录 D 152~Sm碎片质量测量中的参考质量列表 | 第114-120页 |
附录 E 58~Ni碎片质量测量实验中的离子回旋时间信息 | 第120-126页 |
参考文献 | 第126-138页 |
简历 | 第138-139页 |
发表文章目录 | 第139-142页 |