天线近场快速测量系统的超宽带探头设计
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-15页 |
| ·课题的研究背景和意义 | 第7-9页 |
| ·近场天线测量技术的发展 | 第9-12页 |
| ·传统的近场扫描技术 | 第9-10页 |
| ·时域近场测量技术 | 第10-11页 |
| ·多探头技术 | 第11-12页 |
| ·本文主要工作及内容安排 | 第12-15页 |
| 第二章 天线平面近场快速测量 | 第15-29页 |
| ·平面近场扫描技术 | 第15-25页 |
| ·平面近场扫描基本理论 | 第15-23页 |
| ·测量面以及取样间隔的选取 | 第23页 |
| ·近场平面扫描测量系统 | 第23-25页 |
| ·使用超宽带探头阵列的平面近场快速测量 | 第25-27页 |
| ·借助探头阵列设备采样的近场快速测量 | 第25-26页 |
| ·探头阵列测量系统 | 第26-27页 |
| ·本章小结 | 第27-29页 |
| 第三章 超宽带双极化探头天线的设计 | 第29-43页 |
| ·超宽带天线 | 第29-31页 |
| ·天线带宽 | 第29-30页 |
| ·超宽带天线 | 第30-31页 |
| ·线极化探头单元设计 | 第31-38页 |
| ·天线的极化 | 第31-34页 |
| ·Vivaldi 天线 | 第34-36页 |
| ·线极化探头天线单元的设计 | 第36-38页 |
| ·双极化超宽带探头单元设计 | 第38-42页 |
| ·双极化超宽带探头结构设计 | 第38-39页 |
| ·仿真和实测结果分析 | 第39-42页 |
| ·本章小结 | 第42-43页 |
| 第四章 探头阵列和微波调制电路的设计 | 第43-55页 |
| ·互耦效应对阵列性能的影响 | 第43-46页 |
| ·互耦效应对阵列单元输入阻抗的影响 | 第44-45页 |
| ·互耦对阵元方向图的影响 | 第45-46页 |
| ·双极化超宽带探头阵列 | 第46-49页 |
| ·探头阵列的设计 | 第46-47页 |
| ·探头阵列的仿真与实测结果分析 | 第47-49页 |
| ·微波调制电路的设计 | 第49-53页 |
| ·信号的调制与解调原理 | 第49-50页 |
| ·微波开关芯片 | 第50-51页 |
| ·信号调制电路单元的设计 | 第51-53页 |
| ·本章小结 | 第53-55页 |
| 第五章 圆极化超宽带探头天线的设计 | 第55-63页 |
| ·研究背景 | 第55页 |
| ·天线结构的设计 | 第55-60页 |
| ·螺旋辐射臂的设计 | 第55-57页 |
| ·超宽带馈电巴伦的设计 | 第57-59页 |
| ·天线的整体仿真 | 第59-60页 |
| ·本章小结 | 第60-63页 |
| 结束语 | 第63-65页 |
| 致谢 | 第65-67页 |
| 参考文献 | 第67-69页 |
| 在读期间研究成果 | 第69-70页 |
