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粲偶素跃迁实验研究

中文摘要第1-8页
Abstract第8-15页
第一章 引言第15-31页
 第一节 粒子物理学第15-20页
     ·粒子物理学理论基础第15-16页
     ·标准模型第16-20页
 第二节 粲偶素物理第20-23页
     ·粲偶素家族第20-22页
     ·粲偶素衰变第22-23页
 第三节 论文选题的依据及意义第23-28页
     ·η_c共振参数的精确测量第23-26页
     ·强子跃迁χ_(cJ)→η_cπ~+π~-的实验寻找第26-27页
     ·强子跃迁e~+e~-→h_cπ~+π~-的截面测量以及对带电类粲偶素Z_c(4020)的测量第27-28页
 第四节 论文结构第28-31页
第二章 北京正负电子对撞机(BEPC)Ⅱ和北京谱仪(BES)Ⅲ介绍第31-45页
 第一节 北京正负电子对撞机(BEPC)Ⅱ第31-32页
 第二节 北京谱仪(BES)Ⅲ第32-45页
     ·束流管第34页
     ·主漂移室第34-36页
     ·飞行时间计数器第36-37页
     ·电磁量能器第37-38页
     ·μ子鉴别器第38页
     ·超导磁铁第38-39页
     ·触发系统第39-40页
     ·数据获取系统第40-41页
     ·离线数据分析系统第41-45页
第三章 η_c共振参数的精确测量第45-75页
 第一节 数据样本和MC模拟第45-46页
     ·数据样本第45页
     ·MC模拟第45-46页
 第二节 事例选择第46-49页
     ·径迹层面选择条件第46-47页
     ·事例层面选择条件第47-49页
 第三节 本底分析第49-61页
     ·去除本底事例条件第49-52页
     ·Ψ′衰变中本底事例分析第52-59页
     ·QED本底的贡献第59-60页
     ·本底分析小结第60-61页
 第四节 质量分辨第61-68页
     ·对数据的最大似然法拟合第63-68页
 第五节 系统误差第68-73页
     ·质量系统偏差和质量分辨引起的系统误差第69-70页
     ·确定主要背景事例引起的系统误差第70页
     ·确定从Ψ′衰变的小贡献本底事例造成的系统误差第70-72页
     ·效率曲线造成的系统误差第72页
     ·拟合范围造成的系统误差第72页
     ·拟合方法的检查第72-73页
 第六节 结果和讨论第73-74页
 第七节 本章小结第74-75页
第四章 对χ_(cJ)强子跃迁过程χ_(cJ)η_cπ~+π~-的寻找以及对χ_(cJ)→KKπππ衰变分支比的测量第75-141页
 第一节 数据样本和MC模拟第75页
     ·数据样本第75页
     ·MC模拟第75页
 第二节 事例选择条件第75-80页
     ·径迹层面选择条件第77页
     ·事例层面选择条件第77-80页
 第三节 本底分析第80-89页
     ·压低本底事例选择条件第80-84页
     ·剩余本底分析第84-89页
 第四节 数据分析第89-95页
       ·χ_(cJ)→ KKπππ衰变分支比的测量第89-93页
     ·强子跃迁χ_(cJ)→η_cπ~+π~-第93-95页
 第五节 系统误差第95-137页
     ·MDC寻迹效率(仅适用于从对撞点衰变的K和π)第96页
     ·光子重建效率第96-98页
     ·π~o粒子重建效率第98页
     ·K~o_s粒子重建效率第98-114页
     ·运动学拟合第114-124页
     ·damping factor第124-127页
     ·中间共振态引起的系统误差第127-130页
     ·质量谱拟合引起的系统误差第130-133页
     ·拟合方法检查第133-136页
     ·χ_(cJ)信号区质量窗口造成的系统误差第136-137页
     ·Ψ′事例总数引起的系统误差第137页
 第六节 结果和讨论第137-139页
     ·χcJ→KKπππ第137-138页
     ·强子跃迁过程χ_(cJ)→η_cπ~+π~-第138-139页
 第七节 本章小结第139-141页
第五章 强子跃迁e~+e~-→h_cπ~+π~-的寻找第141-167页
 第一节 数据样本和MC模拟第141-142页
     ·数据样本第141页
     ·MC模拟第141-142页
 第二节 事例选择第142-146页
 第三节 γX_i不变质量谱分析第146-154页
     ·MC模拟第146-147页
     ·数据第147-154页
 第四节 质量分辨和探测效率第154-158页
     ·e~+e~-→π~+π~-h_c反应截面的测量第154-155页
     ·Z_c(4020)结构参数测量第155-158页
 第五节 对数据中质量谱的拟合第158-161页
     ·π~+π~-反冲质量谱第158-159页
     ·π反冲质量谱第159-161页
 第六节 系统误差分析第161-165页
     ·Z_c(4020)共振参数测量中的系统误差分析第161-162页
     ·e~+e~-→π~+π~-h_c截面测量中的系统误差第162-165页
 第七节 结果与讨论第165-167页
第六章 总结和讨论第167-171页
参考文献第171-179页
致谢第179-181页
个人简历第181页

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