中文摘要 | 第1-8页 |
Abstract | 第8-15页 |
第一章 引言 | 第15-31页 |
第一节 粒子物理学 | 第15-20页 |
·粒子物理学理论基础 | 第15-16页 |
·标准模型 | 第16-20页 |
第二节 粲偶素物理 | 第20-23页 |
·粲偶素家族 | 第20-22页 |
·粲偶素衰变 | 第22-23页 |
第三节 论文选题的依据及意义 | 第23-28页 |
·η_c共振参数的精确测量 | 第23-26页 |
·强子跃迁χ_(cJ)→η_cπ~+π~-的实验寻找 | 第26-27页 |
·强子跃迁e~+e~-→h_cπ~+π~-的截面测量以及对带电类粲偶素Z_c(4020)的测量 | 第27-28页 |
第四节 论文结构 | 第28-31页 |
第二章 北京正负电子对撞机(BEPC)Ⅱ和北京谱仪(BES)Ⅲ介绍 | 第31-45页 |
第一节 北京正负电子对撞机(BEPC)Ⅱ | 第31-32页 |
第二节 北京谱仪(BES)Ⅲ | 第32-45页 |
·束流管 | 第34页 |
·主漂移室 | 第34-36页 |
·飞行时间计数器 | 第36-37页 |
·电磁量能器 | 第37-38页 |
·μ子鉴别器 | 第38页 |
·超导磁铁 | 第38-39页 |
·触发系统 | 第39-40页 |
·数据获取系统 | 第40-41页 |
·离线数据分析系统 | 第41-45页 |
第三章 η_c共振参数的精确测量 | 第45-75页 |
第一节 数据样本和MC模拟 | 第45-46页 |
·数据样本 | 第45页 |
·MC模拟 | 第45-46页 |
第二节 事例选择 | 第46-49页 |
·径迹层面选择条件 | 第46-47页 |
·事例层面选择条件 | 第47-49页 |
第三节 本底分析 | 第49-61页 |
·去除本底事例条件 | 第49-52页 |
·Ψ′衰变中本底事例分析 | 第52-59页 |
·QED本底的贡献 | 第59-60页 |
·本底分析小结 | 第60-61页 |
第四节 质量分辨 | 第61-68页 |
·对数据的最大似然法拟合 | 第63-68页 |
第五节 系统误差 | 第68-73页 |
·质量系统偏差和质量分辨引起的系统误差 | 第69-70页 |
·确定主要背景事例引起的系统误差 | 第70页 |
·确定从Ψ′衰变的小贡献本底事例造成的系统误差 | 第70-72页 |
·效率曲线造成的系统误差 | 第72页 |
·拟合范围造成的系统误差 | 第72页 |
·拟合方法的检查 | 第72-73页 |
第六节 结果和讨论 | 第73-74页 |
第七节 本章小结 | 第74-75页 |
第四章 对χ_(cJ)强子跃迁过程χ_(cJ)η_cπ~+π~-的寻找以及对χ_(cJ)→KKπππ衰变分支比的测量 | 第75-141页 |
第一节 数据样本和MC模拟 | 第75页 |
·数据样本 | 第75页 |
·MC模拟 | 第75页 |
第二节 事例选择条件 | 第75-80页 |
·径迹层面选择条件 | 第77页 |
·事例层面选择条件 | 第77-80页 |
第三节 本底分析 | 第80-89页 |
·压低本底事例选择条件 | 第80-84页 |
·剩余本底分析 | 第84-89页 |
第四节 数据分析 | 第89-95页 |
·χ_(cJ)→ KKπππ衰变分支比的测量 | 第89-93页 |
·强子跃迁χ_(cJ)→η_cπ~+π~- | 第93-95页 |
第五节 系统误差 | 第95-137页 |
·MDC寻迹效率(仅适用于从对撞点衰变的K和π) | 第96页 |
·光子重建效率 | 第96-98页 |
·π~o粒子重建效率 | 第98页 |
·K~o_s粒子重建效率 | 第98-114页 |
·运动学拟合 | 第114-124页 |
·damping factor | 第124-127页 |
·中间共振态引起的系统误差 | 第127-130页 |
·质量谱拟合引起的系统误差 | 第130-133页 |
·拟合方法检查 | 第133-136页 |
·χ_(cJ)信号区质量窗口造成的系统误差 | 第136-137页 |
·Ψ′事例总数引起的系统误差 | 第137页 |
第六节 结果和讨论 | 第137-139页 |
·χcJ→KKπππ | 第137-138页 |
·强子跃迁过程χ_(cJ)→η_cπ~+π~- | 第138-139页 |
第七节 本章小结 | 第139-141页 |
第五章 强子跃迁e~+e~-→h_cπ~+π~-的寻找 | 第141-167页 |
第一节 数据样本和MC模拟 | 第141-142页 |
·数据样本 | 第141页 |
·MC模拟 | 第141-142页 |
第二节 事例选择 | 第142-146页 |
第三节 γX_i不变质量谱分析 | 第146-154页 |
·MC模拟 | 第146-147页 |
·数据 | 第147-154页 |
第四节 质量分辨和探测效率 | 第154-158页 |
·e~+e~-→π~+π~-h_c反应截面的测量 | 第154-155页 |
·Z_c(4020)结构参数测量 | 第155-158页 |
第五节 对数据中质量谱的拟合 | 第158-161页 |
·π~+π~-反冲质量谱 | 第158-159页 |
·π反冲质量谱 | 第159-161页 |
第六节 系统误差分析 | 第161-165页 |
·Z_c(4020)共振参数测量中的系统误差分析 | 第161-162页 |
·e~+e~-→π~+π~-h_c截面测量中的系统误差 | 第162-165页 |
第七节 结果与讨论 | 第165-167页 |
第六章 总结和讨论 | 第167-171页 |
参考文献 | 第171-179页 |
致谢 | 第179-181页 |
个人简历 | 第181页 |