晶体管输出型光电耦合器辐照及其噪声研究
| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-21页 |
| ·研究方向及背景意义 | 第12-16页 |
| ·概论 | 第12-13页 |
| ·辐照环境与光电耦合器的辐照效应 | 第13-14页 |
| ·光电耦合器的辐照与可靠性 | 第14-15页 |
| ·光电耦合器的噪声与可靠性 | 第15-16页 |
| ·国内外相关研究概况 | 第16-19页 |
| ·本论文主要研究内容及内容安排 | 第19-21页 |
| 第二章 光电耦合器的噪声基础 | 第21-30页 |
| ·白噪声 | 第22-23页 |
| ·热噪声 | 第22-23页 |
| ·散粒噪声 | 第23页 |
| ·g-r 噪声 | 第23-26页 |
| ·g-r 噪声的产生机理 | 第23-24页 |
| ·二极管的g-r 噪声 | 第24-25页 |
| ·晶体管的g-r 噪声 | 第25-26页 |
| ·1/f 噪声 | 第26-30页 |
| ·1/f 噪声产生机理 | 第26-27页 |
| ·二极管的1/f 噪声 | 第27-28页 |
| ·晶体管的1/f 噪声 | 第28-30页 |
| 第三章 光电耦合器的辐照损伤机理及辐照效应 | 第30-45页 |
| ·发光二极管辐照研究 | 第30-31页 |
| ·光电晶体管辐照研究 | 第31-33页 |
| ·辐射对光电晶体管电流增益的影响 | 第31-32页 |
| ·辐射对光电晶体管饱和压降的影响 | 第32-33页 |
| ·光电耦合器的电参数辐照效应 | 第33-39页 |
| ·光电耦合器的噪声参数辐照效应 | 第39-45页 |
| 第四章 光电耦合器的抗辐照设计 | 第45-50页 |
| ·材料设计 | 第45-47页 |
| ·发光二极管材料的设计 | 第45-46页 |
| ·光电晶体管材料的设计 | 第46-47页 |
| ·结构设计 | 第47-48页 |
| ·发光二极管结构设计 | 第47页 |
| ·光电晶体管结构设计 | 第47-48页 |
| ·整体设计 | 第48-50页 |
| ·管壳设计 | 第48-49页 |
| ·键合丝的设计 | 第49页 |
| ·焊料的设计 | 第49-50页 |
| 第五章 光电耦合器辐照的噪声测试 | 第50-55页 |
| ·光电耦合器的噪声测试系统 | 第50-52页 |
| ·测试系统的组成 | 第50-51页 |
| ·测试系统的性能 | 第51-52页 |
| ·光电耦合器三种噪声的测试方法 | 第52-53页 |
| ·输入噪声的测试 | 第52-53页 |
| ·输出噪声的测试 | 第53页 |
| ·背景噪声的测试 | 第53页 |
| ·光电耦合器辐照的低频噪声测试 | 第53-55页 |
| 第六章 光电耦合器的辐照特性 | 第55-81页 |
| ·光电耦合器电离总剂量辐照特性 | 第55-69页 |
| ·电参数辐照 | 第55-64页 |
| ·噪声参数辐照 | 第64-69页 |
| ·光电耦合器中子注量辐照特性 | 第69-78页 |
| ·电参数辐照 | 第69页 |
| ·噪声辐照 | 第69-78页 |
| ·光电耦合器辐照特性分析 | 第78-81页 |
| ·电离辐照特性分析 | 第78-80页 |
| ·中子注量辐照特性分析 | 第80-81页 |
| 第七章 光电耦合器抗辐照能力评估 | 第81-93页 |
| ·半导体器件传统的抗辐照能力评估 | 第81-84页 |
| ·电参数测量筛选法 | 第81-82页 |
| ·辐射—退火筛选法 | 第82-83页 |
| ·多元回归法 | 第83-84页 |
| ·光电耦合器抗辐照能力的元器件评估 | 第84-87页 |
| ·光电耦合器抗辐照能力噪声参数评估 | 第87-93页 |
| ·光电耦合器可靠性噪声评估方法 | 第87-88页 |
| ·光电耦合器辐照噪声评估方法 | 第88-93页 |
| 第八章 总结 | 第93-95页 |
| 参考文献 | 第95-102页 |
| 致谢 | 第102-103页 |
| 攻博期间取得的研究成果 | 第103-105页 |
