摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-8页 |
目录 | 第8-12页 |
第1章 绪论 | 第12-19页 |
·课题背景 | 第12-13页 |
·电连接器失效类型与研究现状 | 第13-15页 |
·接触失效 | 第14页 |
·绝缘失效 | 第14页 |
·机械失效 | 第14-15页 |
·电连接器的相关标准及发展现状 | 第15-18页 |
·常规电连接器的标准及发展现状 | 第15页 |
·低温电连接器的标准及发展现状 | 第15-18页 |
·本文主要工作 | 第18-19页 |
第2章 应变片法测量低温下材料热膨胀特征参数的原理 | 第19-28页 |
·热膨胀特征参数的术语 | 第19-20页 |
·线性热膨胀(收缩率) | 第19页 |
·平均线膨胀系数 | 第19页 |
·瞬间线膨胀系数 | 第19-20页 |
·测量热膨胀特征参数的常用方法 | 第20-21页 |
·电阻应变片测量应变原理 | 第21页 |
·金属细丝的电阻应变效应 | 第21页 |
·应变片的电阻应变效应 | 第21页 |
·电压输出电桥测量微小电阻变化原理 | 第21-24页 |
·四分之一桥 | 第22-23页 |
·半桥 | 第23-24页 |
·全桥 | 第24页 |
·应变片法测量热膨胀特征参数原理 | 第24-27页 |
·热输出 | 第24-26页 |
·热输出在机械应变测量中的不利影响 | 第26页 |
·热输出与热膨胀特征参数的关系 | 第26-27页 |
·本章小结 | 第27-28页 |
第3章 低温下材料热膨胀特征参数测量实验装置及验证实验 | 第28-42页 |
·低温下材料热膨胀特征参数测量实验装置 | 第28-32页 |
·待测件和参考件 | 第29页 |
·收缩率测量与采集系统 | 第29-31页 |
·温度测量与采集系统 | 第31页 |
·温度控制系统 | 第31-32页 |
·计算机监控界面 | 第32页 |
·低温下材料热膨胀特征参数测量实验操作步骤 | 第32-36页 |
·电阻应变片的粘贴及固化操作步骤 | 第32-34页 |
·自整定过程操作步骤 | 第34-35页 |
·步进式控温模式操作步骤 | 第35页 |
·恒速控温模式操作步骤 | 第35-36页 |
·两种控温模式的对比与选择 | 第36页 |
·低温下材料热膨胀特征参数测量系统的验证实验 | 第36-39页 |
·低温下不锈钢热膨胀特征参数及灵敏系数的修正 | 第36-37页 |
·低温下无氧铜热膨胀特征参数的验证测量 | 第37-39页 |
·误差分析 | 第39-41页 |
·系统误差 | 第39-40页 |
·随机误差 | 第40-41页 |
·误差合成 | 第41页 |
·本章小结 | 第41-42页 |
第4章 电连接器相关材料低温下热膨胀特征参数的测量 | 第42-50页 |
·膨胀合金 | 第42-47页 |
·膨胀合金4J29 | 第42-44页 |
·膨胀合金4J33、4J34 | 第44-45页 |
·膨胀合金4J29A、4J29B、4J29C、4J29D | 第45-47页 |
·封接玻璃DM-305、DM-308、7070 | 第47-49页 |
·本章小结 | 第49-50页 |
第5章 封接组件的有限元数值模拟 | 第50-60页 |
·ANSYS前处理器有限元建模 | 第50-51页 |
·封接组件的实体模型建立 | 第50页 |
·封接组件的材料选择 | 第50-51页 |
·封接组件的有限元模型建立 | 第51页 |
·有限元模拟计算结果与分析 | 第51-58页 |
·插针的影响 | 第53页 |
·壳孔的影响 | 第53页 |
·中心距的影响 | 第53-54页 |
·材料的影响 | 第54-57页 |
·温度的影响 | 第57-58页 |
·本章小结 | 第58-60页 |
第6章 电连接器密封性能检测 | 第60-67页 |
·电连接器密封性能检测实验装置 | 第60-62页 |
·泄漏率测量系统 | 第61-62页 |
·压力测量与采集系统 | 第62页 |
·温度测量与采集系统 | 第62页 |
·计算机监控界面 | 第62页 |
·电连接器密封性能检测实验操作 | 第62-63页 |
·电连接器密封性能检测方案 | 第63-64页 |
·电连接器密封性能检测实验的结果与分析 | 第64-65页 |
·常温检漏 | 第64-65页 |
·低温浸泡后常温检漏 | 第65页 |
·低温检漏 | 第65页 |
·误差分析 | 第65-66页 |
·本章小结 | 第66-67页 |
第7章 全文总结与展望 | 第67-69页 |
·全文总结 | 第67-68页 |
·课题展望 | 第68-69页 |
参考文献 | 第69-72页 |
攻读硕士期间取得的科研成果 | 第72-73页 |
致谢 | 第73页 |