摘要 | 第1-6页 |
ABSTRACT | 第6-7页 |
致谢 | 第7-13页 |
第一章 绪论 | 第13-18页 |
·课题背景 | 第13-16页 |
·原子力显微镜的基本原理 | 第13-15页 |
·原子力显微镜的电子反馈控制系统 | 第15页 |
·ARM 处理器概述 | 第15-16页 |
·课题的研究内容 | 第16-17页 |
·论文的内容安排 | 第17-18页 |
第二章 采集与控制系统的总体设计 | 第18-21页 |
·系统设计的技术指标 | 第18-19页 |
·系统设计的总体方案 | 第19-20页 |
·本章小结 | 第20-21页 |
第三章 硬件电路设计 | 第21-42页 |
·S3C2440 处理器介绍 | 第21-23页 |
·电源电路 | 第23-24页 |
·复位电路 | 第24-25页 |
·串行接口电路 | 第25-26页 |
·USB 接口电路 | 第26-28页 |
·JTAG 接口电路 | 第28页 |
·以太网接口电路 | 第28-30页 |
·键盘电路 | 第30页 |
·液晶屏接口电路 | 第30-31页 |
·模数转换电路设计 | 第31-37页 |
·ADS8556 的基本特性 | 第31-34页 |
·ADS8556 的工作方式 | 第34-35页 |
·ADS8556 与 S3C2440 的接口电路设计 | 第35-37页 |
·数模转换电路设计 | 第37-39页 |
·DAC8574 的基本特性 | 第37-38页 |
·DAC8574 的工作方式 | 第38-39页 |
·DAC8574 与 S3C2440 的接口电路设计 | 第39页 |
·电路板设计过程中遇到的问题 | 第39-41页 |
·本章小结 | 第41-42页 |
第四章 硬件模块的软件调试 | 第42-57页 |
·ADS 集成开发环境 | 第42-43页 |
·ADS8556 的接口程序设计 | 第43-48页 |
·SPI 总线原理 | 第43-44页 |
·S3C2440 的 SPI 接口 | 第44页 |
·S3C2440 的 SPI 接口控制寄存器 | 第44-46页 |
·ADS8556 的接口程序设计 | 第46-48页 |
·DAC8574 的接口程序设计 | 第48-55页 |
·I2C 总线特点 | 第48页 |
·S3C2440 的 I~2C 接口 | 第48-49页 |
·DAC8574 的 I~2C 总线数据传输 | 第49-54页 |
·DAC 8574 的数据传输 | 第50-52页 |
·标准模式和快速模式传输协议 | 第52-53页 |
·高速模式传输协议 | 第53-54页 |
·DAC8574 的接口程序设计 | 第54-55页 |
·AD 和 DA 电路调试 | 第55-56页 |
·本章小结 | 第56-57页 |
第五章 总结与展望 | 第57-58页 |
·论文总结 | 第57页 |
·对今后工作的展望 | 第57-58页 |
参考文献 | 第58-60页 |
攻读硕士学位期间发表的论文 | 第60-61页 |
附录 | 第61-63页 |