| 中文摘要 | 第1-5页 |
| 英文摘要 | 第5-9页 |
| 1 绪论 | 第9-16页 |
| ·课题背景 | 第9-10页 |
| ·实时图像处理系统国内外现状 | 第10-13页 |
| ·实时图像处理系统的发展阶段和种类 | 第10-12页 |
| ·DSP 的发展现状和特点 | 第12-13页 |
| ·本课题研究的意义 | 第13-14页 |
| ·论文的主要内容 | 第14-16页 |
| 2 实时图像处理系统硬件平台 | 第16-27页 |
| ·TM5320DM642 概述 | 第16-21页 |
| ·TM5320DM642 处理器的内核 | 第18-19页 |
| ·TM5320DM642 的Cache 结构 | 第19-20页 |
| ·TM5320DM642 的EDMA | 第20-21页 |
| ·TM5320DM642 的EMIF | 第21页 |
| ·图像采集模块 | 第21-22页 |
| ·存储器结构 | 第22-26页 |
| ·系统总体存储结构 | 第22-23页 |
| ·CF 卡工作原理 | 第23-26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 3 表面缺陷识别算法设计 | 第27-42页 |
| ·缺陷图像的获取 | 第27-29页 |
| ·图像采集 | 第27-29页 |
| ·图像有效信息截取 | 第29页 |
| ·图像去噪处理 | 第29-35页 |
| ·图像噪声来源 | 第29-30页 |
| ·图像去噪方法 | 第30-33页 |
| ·3×3 窗口快速中值滤波算法及实现 | 第33-35页 |
| ·目标分割 | 第35-41页 |
| ·图像分割的主要方法 | 第36-38页 |
| ·拉索缺陷识别的图像分割 | 第38-41页 |
| ·本章小结 | 第41-42页 |
| 4 基于 DSP/BIOS 的表面缺陷检测系统软件设计与实现 | 第42-62页 |
| ·DM642 的软件开发环境 | 第42-47页 |
| ·代码生成工具CCS | 第42-44页 |
| ·DSP/BIOS | 第44-47页 |
| ·缺陷识别软件系统的设计与实现 | 第47-58页 |
| ·基于DSP/BIOS 软件实现 | 第47-49页 |
| ·系统的启动和初始化 | 第49-54页 |
| ·图像处理算法模块的编程实现 | 第54-58页 |
| ·代码优化 | 第58-61页 |
| ·C6000 代码优化概述 | 第58-59页 |
| ·系统代码优化方案 | 第59-61页 |
| ·本章小结 | 第61-62页 |
| 5 实验结果 | 第62-65页 |
| ·算法执行时间 | 第62页 |
| ·表面缺陷图像检测结果 | 第62-65页 |
| 6 结论与展望 | 第65-66页 |
| ·本文主要工作 | 第65页 |
| ·对未来工作的展望 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-69页 |
| 附录 | 第69-71页 |