| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 致谢 | 第7-13页 |
| 第一章 导论 | 第13-16页 |
| ·概述 | 第13-14页 |
| ·本论文研究的背景、目的 | 第13页 |
| ·国内外研究状况分析 | 第13-14页 |
| ·本论文的研究内容、拟解决的关键问题及创新之处 | 第14-16页 |
| ·研究内容 | 第14页 |
| ·本论文拟解决的关键问题 | 第14页 |
| ·本论文的创新之处 | 第14-16页 |
| 第二章 数据转换的基本原理 | 第16-27页 |
| ·模数转换器 | 第16-18页 |
| ·ADC的性能参数 | 第18-21页 |
| ·分辨率(Resolution) | 第18-19页 |
| ·失调误差(Offset)和增益误差(Gain Error) | 第19页 |
| ·非线性误差(Non-linearity) | 第19-20页 |
| ·信噪比 | 第20页 |
| ·动态范围 | 第20页 |
| ·采样速率、转换时间和转换速度 | 第20-21页 |
| ·模数转换器(ADC)的结构对比 | 第21-27页 |
| ·并行结构 ADC | 第21-22页 |
| ·二步式 A/D转换器 | 第22-23页 |
| ·流水线 ADC | 第23-24页 |
| ·逐次逼近结构 ADC | 第24-26页 |
| ·∑-△ADC | 第26-27页 |
| 第三章 A/D转换器单元电路模块分析 | 第27-46页 |
| ·采样保持电路 | 第27-33页 |
| ·S/H电路的主要参数 | 第27-28页 |
| ·采样保持电路结构 | 第28-29页 |
| ·MOS管采样开关 | 第29-33页 |
| ·数模转换器 | 第33-39页 |
| ·性能指标 | 第34-35页 |
| ·DAC的结构 | 第35-37页 |
| ·高分辨率结构 | 第37-39页 |
| ·比较器 | 第39-46页 |
| ·性能参数 | 第39-41页 |
| ·电压比较器的结构 | 第41-43页 |
| ·比较器失调电压取消 | 第43-46页 |
| 第四章 具体电路设计及仿真结果 | 第46-62页 |
| ·采样保持电路 | 第46-51页 |
| ·电容器阵列 | 第49-50页 |
| ·开关 | 第50-51页 |
| ·转换时间 | 第51页 |
| ·电压比较器 | 第51-57页 |
| ·所采用的电路结构 | 第51-54页 |
| ·前置放大器和锁存比较器电路的设计 | 第54-55页 |
| ·输入电容 | 第55-56页 |
| ·比较器的仿真结果 | 第56-57页 |
| ·运算放大器的设计 | 第57-59页 |
| ·CMOS运算放大器的主要特性 | 第58页 |
| ·运算放大器的设计 | 第58-59页 |
| ·逐次逼近寄存器的设计(SAR) | 第59-62页 |
| 第五章 模数转换器的仿真结果 | 第62-68页 |
| ·电路仿真的基本思想 | 第62页 |
| ·采样保持电路的仿真 | 第62页 |
| ·系统级仿真 | 第62-68页 |
| ·静态参数仿真 | 第62-65页 |
| ·动态参数仿真 | 第65-68页 |
| 第六章 结论与展望 | 第68-70页 |
| ·工作总结 | 第68-69页 |
| ·工作展望 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-74页 |
| 附录:缩写词表 | 第74页 |