| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-8页 |
| 目录 | 第8-12页 |
| 第一章 引言 | 第12-16页 |
| ·ICF(惯性约束聚变)实验的意义 | 第12页 |
| ·ICF的基本概念 | 第12-13页 |
| ·"神光-Ⅲ"原型装置 | 第13-14页 |
| ·国外ICF装置的介绍 | 第14-15页 |
| ·论文的目的和章节安排 | 第15-16页 |
| 第二章 ICF内爆中燃料离子温度和燃料面密度的测量 | 第16-23页 |
| ·ICF实验的等离子体的核诊断 | 第16页 |
| ·燃料离子温度的测量 | 第16-18页 |
| ·燃料面密度<ρR>的测量 | 第18-19页 |
| ·大面积中子探测器阵列飞行时间谱仪 | 第19-22页 |
| ·大面积中子探测器阵列飞行时间谱仪的建立 | 第19-20页 |
| ·大面积中子探测器阵列在测量燃料离子温度的应用 | 第20-22页 |
| ·利用大面子中子探测器阵列测量燃料面密度 | 第22页 |
| ·小结 | 第22-23页 |
| 第三章 "神光3"原型装置上大面积中子探测器阵列飞行时间谱仪 | 第23-31页 |
| ·"神光3"原型和大面积中子探测器阵列飞行时间谱仪 | 第23-24页 |
| ·探测器 | 第23-24页 |
| ·靶室开孔 | 第24页 |
| ·探测器铅屏蔽体 | 第24页 |
| ·探测器支架 | 第24页 |
| ·中子飞行谱仪的总体设计目标 | 第24-25页 |
| ·中子飞行时间谱仪的时间分辨 | 第25-26页 |
| ·探测器的固有时间分辨 | 第25页 |
| ·电子学系统的时间晃动 | 第25-26页 |
| ·通道一致性 | 第26页 |
| ·通道间的串扰 | 第26页 |
| ·电子学系统误差 | 第26页 |
| ·谱仪系统实现路径 | 第26-28页 |
| ·原型设计 | 第26-27页 |
| ·系统集成 | 第27-28页 |
| ·测试 | 第28-29页 |
| ·原型样机的建立 | 第28页 |
| ·组件测试 | 第28-29页 |
| ·系统测试 | 第29页 |
| ·放射性测试 | 第29页 |
| ·小结 | 第29-31页 |
| 第四章 大面积中子探测器阵列的时间测量模块 | 第31-56页 |
| ·大面子中子阵列的时间测量模块指标要求 | 第31页 |
| ·精密时间间隔测量技术 | 第31-35页 |
| ·时间测量的基本概念和原理 | 第32-33页 |
| ·定时技术 | 第33-34页 |
| ·时间—数字转换技术 | 第34-35页 |
| ·大面子中子探测器阵列电子学系统的基本结构 | 第35-36页 |
| ·大面积中子探测器阵列的时间测量过程的特殊性 | 第36-37页 |
| ·时间测量模块的TDC芯片的选型 | 第37-45页 |
| ·GPX的原型、性能和使用 | 第37-41页 |
| ·GP2的原理、性能和使用 | 第41-44页 |
| ·GPX和GP2的比较 | 第44-45页 |
| ·大面积中子探测器阵列的时间测量模块的研制 | 第45-55页 |
| ·整体结构介绍 | 第45-46页 |
| ·GP2的晶振和电源 | 第46-48页 |
| ·FPGA的逻辑结构和对GP2的控制 | 第48-53页 |
| ·时间测量模块中GP2的寄存器 | 第53-55页 |
| ·小结 | 第55-56页 |
| 第五章 大面积中子探测器阵列的控制模块的设计 | 第56-63页 |
| ·大面子中子阵列电子学系统的工作时序 | 第56-57页 |
| ·延时的实现 | 第57-60页 |
| ·常见的延时实现方法 | 第57-59页 |
| ·控制模块里面延时的实现 | 第59-60页 |
| ·控制模块的设计 | 第60-62页 |
| ·控制模块的结构 | 第60-61页 |
| ·测试脉冲 | 第61-62页 |
| ·信号输出的方式 | 第62页 |
| ·小结 | 第62-63页 |
| 第六章 大面积中子探测器阵列的其他模块的介绍 | 第63-70页 |
| ·大面积中子探测器阵列电子学系统中模块的划分 | 第63页 |
| ·放大定时甄别模块 | 第63-64页 |
| ·幅度测量模块 | 第64-65页 |
| ·扇出模块 | 第65-66页 |
| ·软件 | 第66-69页 |
| ·小结 | 第69-70页 |
| 第七章 系统的测试过程和结果 | 第70-91页 |
| ·需要测试的性能参数 | 第70页 |
| ·时间测量模块的性能测试 | 第70-79页 |
| ·时间分辨测试常用方法 | 第70-71页 |
| ·统计误差对测试结果的影响 | 第71页 |
| ·停止信号通过"或门"后时间晃动量测量 | 第71-72页 |
| ·用延迟线法测试时间分辨 | 第72-75页 |
| ·温漂和稳定性 | 第75-77页 |
| ·通道一致性测试 | 第77-79页 |
| ·放大和定时甄别模块的性能测试 | 第79-80页 |
| ·前端带放大定时甄别模块的时间测量模块的时间分辨 | 第80-82页 |
| ·利用宇宙线来测试总体电子学系统的性能 | 第82-90页 |
| ·利用宇宙线来测试总体系统的时间分辨的方法 | 第82-83页 |
| ·测试光电倍增管和CFD的时间分辨 | 第83-84页 |
| ·宇宙线总体测试的结果 | 第84-86页 |
| ·实验结果的分析 | 第86-89页 |
| ·总体电子学系统的稳定性 | 第89-90页 |
| ·小结 | 第90-91页 |
| 第八章 总结和展望 | 第91-94页 |
| ·工作总结 | 第91-93页 |
| ·工作展望 | 第93-94页 |
| 参考文献 | 第94-98页 |
| 在学期间发表的学术论文 | 第98-99页 |
| 致谢 | 第99页 |
