| 摘要 | 第1-11页 |
| ABSTRACT | 第11-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-21页 |
| ·电子硬盘工作原理 | 第12-13页 |
| ·电子硬盘控制器 | 第13页 |
| ·电子硬盘接口—IDE概述 | 第13-19页 |
| ·IDE接口发展进程 | 第14-15页 |
| ·IDE指令集 | 第15-16页 |
| ·IDE接口 | 第16-18页 |
| ·寄存器组 | 第18-19页 |
| ·课题所做的工作及论文的安排 | 第19-20页 |
| ·本章小结 | 第20-21页 |
| 第二章 电子硬盘存储介质—Flash | 第21-31页 |
| ·NAND Flash | 第21-22页 |
| ·NOR Flash | 第22页 |
| ·新技术 | 第22-23页 |
| ·NAND Flash与NOR Flash性能比较 | 第23-25页 |
| ·速度 | 第23页 |
| ·接口差别 | 第23页 |
| ·容量和成本 | 第23-24页 |
| ·可靠性 | 第24页 |
| ·寿命(耐用性) | 第24页 |
| ·位交换(0、1反转) | 第24页 |
| ·坏块处理 | 第24-25页 |
| ·使用难易度 | 第25页 |
| ·软件支持 | 第25页 |
| ·NAND Flash基本情况 | 第25-30页 |
| ·本章小结 | 第30-31页 |
| 第三章 NAND Flash特性研究与分析 | 第31-41页 |
| ·芯片特性 | 第31-35页 |
| ·容量与存储单元组织 | 第31页 |
| ·内部结构 | 第31-32页 |
| ·引脚配置 | 第32-33页 |
| ·指令系统 | 第33-35页 |
| ·坏块 | 第35页 |
| ·指令操作流程 | 第35-37页 |
| ·初始化坏块信息流程 | 第36页 |
| ·页编程流程 | 第36-37页 |
| ·块擦除流程 | 第37页 |
| ·页读取流程 | 第37页 |
| ·波形图 | 第37-40页 |
| ·本章小结 | 第40-41页 |
| 第四章 NAND Flash应用算法研究与设计 | 第41-66页 |
| ·坏块管理 | 第41-45页 |
| ·坏块出现的原因 | 第41页 |
| ·坏块的分类 | 第41-42页 |
| ·坏块管理具体步骤 | 第42-45页 |
| ·ECC校验 | 第45-59页 |
| ·算法 | 第45-48页 |
| ·设计实现 | 第48-49页 |
| ·工作简述 | 第49页 |
| ·ECC模块的结构 | 第49-59页 |
| ·均衡损耗算法 | 第59-64页 |
| ·均衡损耗算法的必要性 | 第60页 |
| ·Flash块结构 | 第60-61页 |
| ·均衡损耗算法 | 第61-62页 |
| ·平均寿命分析 | 第62-64页 |
| ·本章小结 | 第64-66页 |
| 第五章 NAND Flash控制器设计 | 第66-78页 |
| ·控制器结构 | 第67-72页 |
| ·引脚 | 第67页 |
| ·寄存器、缓存配置 | 第67-70页 |
| ·时钟控制 | 第70-71页 |
| ·状态图 | 第71-72页 |
| ·指令流程 | 第72-77页 |
| ·页读取指令流程 | 第72-73页 |
| ·查错状态 | 第73-74页 |
| ·页编程指令流程 | 第74-75页 |
| ·块擦除指令流程 | 第75页 |
| ·重置指令流程 | 第75-76页 |
| ·读ID指令流程 | 第76页 |
| ·状态读取指令流程 | 第76-77页 |
| ·本章小结 | 第77-78页 |
| 结束语 | 第78-79页 |
| 致谢 | 第79-80页 |
| 参考文献 | 第80-82页 |
| 作者在学期间取得的学术成果 | 第82页 |