| 中文摘要 | 第1-3页 |
| ABSTRACT | 第3-7页 |
| 第一章 Freescale 单片机简介 | 第7-11页 |
| ·微控制器的定义 | 第7页 |
| ·微控制器的应用 | 第7-8页 |
| ·Freescale 单片机简介 | 第8-9页 |
| ·Freescale 微控制器命名方法 | 第9-11页 |
| 第二章 新型8 位微控制器MC68HC908GR8 | 第11-23页 |
| ·MC68HC908GR8 特性 | 第11-12页 |
| ·CPU08 特性 | 第12-13页 |
| ·MC68HC908GR8 内部结构 | 第13-14页 |
| ·MC68HC908GR8 系列封装 | 第14页 |
| ·引脚功能介绍 | 第14-17页 |
| ·电源输入引脚 | 第14-15页 |
| ·振荡器引脚 | 第15页 |
| ·外部复位引脚 | 第15页 |
| ·外部中断引脚 | 第15页 |
| ·CGM 电源供电引脚 | 第15页 |
| ·外部滤波电容引脚 | 第15页 |
| ·ADC 电源驱动/参考引脚 | 第15页 |
| ·MC68HC908GR8 的输入输出端口 | 第15-17页 |
| ·MC68HC908GR8 Flash Memory 简介 | 第17-23页 |
| ·Flash 存储器概述 | 第17-19页 |
| ·MC68HC908GR8Flash 存储器 | 第19-20页 |
| ·随机存储器 | 第20页 |
| ·FLASH-1 存储器 | 第20-23页 |
| 第三章 芯片测试原理 | 第23-35页 |
| ·测试的目的 | 第23页 |
| ·测试的设备 | 第23-24页 |
| ·测试的分类 | 第24页 |
| ·DC 测试原理 | 第24-29页 |
| ·AC 测试原理 | 第29-30页 |
| ·Functional 测试 | 第30-31页 |
| ·Functional 测试简介 | 第30页 |
| ·Functional 测试的组成部分 | 第30-31页 |
| ·J750 测试系统介绍 | 第31-32页 |
| ·J750 测试系统宏观结构 | 第31-32页 |
| ·J750 测试系统硬件结构简介 | 第32页 |
| ·基于J750 测试系统的IG-XL 软件平台简介 | 第32-35页 |
| 第四章 MC68HC908GR8 系列测试并行度提升 | 第35-53页 |
| ·MC68HC908GR8 系列生产测试背景 | 第36-40页 |
| ·MC68HC908GR8 系列产品历史和背景 | 第37-38页 |
| ·MC68HC908GR8 的历史良品率和产能 | 第38-39页 |
| ·QFP 形式封装GR8 产品历史良品率和产能 | 第39-40页 |
| ·MC68HC908GR8 测试板并行度提升 | 第40-44页 |
| ·MC68HC908GR8 产品测试系统 | 第44-46页 |
| ·Teradyne IG-XL 软件平台 | 第46-49页 |
| ·MC68HC908GR8 新程序测试结果 | 第49-53页 |
| 第五章 MC68HC908GR8 系列生产中的Fail 项调试 | 第53-59页 |
| ·A/D 测试问题和解决方案 | 第53-56页 |
| ·General pattern | 第54-55页 |
| ·Stop Pattern | 第55-56页 |
| ·测试问题描述及解决方案 | 第56页 |
| ·LVI 模块测试问题和解决方案 | 第56-59页 |
| 第六章 并行度提升相关性实验 | 第59-65页 |
| ·相关性实验简介 | 第59-60页 |
| ·MC68HC908GR8 相关性实验 | 第60-61页 |
| ·相关性实验的硬件要求 | 第60页 |
| ·相关性实验流程 | 第60页 |
| ·相关性实验的接受标准 | 第60-61页 |
| ·相关性实验芯片信息 | 第61页 |
| ·测试信息 | 第61页 |
| ·相关性实验对照结果 | 第61-64页 |
| ·好品测试结果对照 | 第61-62页 |
| ·次品测试结果对照 | 第62页 |
| ·功能测试项测试结果对照 | 第62-63页 |
| ·IDD 测试项测试结果对照 | 第63页 |
| ·上拉电阻（仅输入）测试项测试结果对照 | 第63-64页 |
| ·相关性实验结论 | 第64-65页 |
| 第七章 结论 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-68页 |
| 发表论文和科研情况说明 | 第68-69页 |
| 致谢 | 第69页 |
