PCI数据采集卡的设计及测试方法研究
摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-9页 |
第一章 绪论 | 第9-15页 |
·课题背景及研究意义 | 第9-13页 |
·总线接口技术 | 第9-11页 |
·边界扫描测试与传统测试的区别 | 第11-12页 |
·复杂电路的测试方法 | 第12-13页 |
·国内外发展的现状及发展趋势 | 第13-14页 |
·PCI总线的现状及发展趋势 | 第13页 |
·复杂电路的测试的现状及发展趋势 | 第13-14页 |
·本文的主要内容及结构 | 第14-15页 |
第二章 PCI数据采集卡设计及测试相关理论 | 第15-22页 |
·PCI总线介绍 | 第15-17页 |
·PCI总线的产生 | 第15页 |
·PCI的体系结构 | 第15-16页 |
·PCI总线特点及性能 | 第16-17页 |
·PCI驱动程序 | 第17页 |
·边界扫描测试原理 | 第17-19页 |
·边界扫描测试基本结构 | 第19-22页 |
第三章 PCI数据采集卡的硬件设计与实现 | 第22-37页 |
·系统总体设计方案 | 第22页 |
·系统硬件组成 | 第22-23页 |
·PCI总线接口设计 | 第23-26页 |
·PCI9054 的特性 | 第23-24页 |
·PCI9054 工作原理 | 第24-25页 |
·PCI9054 与EEPROM接口 | 第25-26页 |
·本地总线接口设计 | 第26-27页 |
·存储芯片选型及应用 | 第27-29页 |
·数据缓存 | 第27-28页 |
·配置数据存储 | 第28-29页 |
·数据采集功能板设计 | 第29-32页 |
·AD部分总体设计框图 | 第29页 |
·前置信号调理电路的设计 | 第29-30页 |
·模数转换器AD9235 的应用 | 第30-31页 |
·差分信号放大器AD8138 的应用 | 第31-32页 |
·电源及散热 | 第32-34页 |
·电源芯片及实际连接电路 | 第32-34页 |
·功耗散热 | 第34页 |
·细节总结 | 第34-37页 |
·退耦电容 | 第34-35页 |
·穿心电容 | 第35-36页 |
·JTAG接口电路 | 第36-37页 |
第四章 PCI数据采集卡软件设计与实现 | 第37-51页 |
·总线控制 | 第37-39页 |
·PCI总线周期 | 第37-38页 |
·本地总线周期 | 第38-39页 |
·FPGA与PCI9054 接口设计 | 第39-44页 |
·直接传输模式 | 第39-41页 |
·DMA操作 | 第41-42页 |
·FPGA状态机 | 第42-44页 |
·寄存器的配置 | 第44页 |
·数据采集应用程序设计 | 第44-51页 |
·应用程序设计的总体思路 | 第44-45页 |
·PLX SDK的使用 | 第45-47页 |
·驱动程序的生成 | 第47-48页 |
·图形化应用程序编写 | 第48-51页 |
第五章 边界扫描在PCI数据采集卡上的应用 | 第51-62页 |
·边界扫描的测试方式 | 第51-53页 |
·内部测试方式(INTEST) | 第51-52页 |
·外部测试方式(EXTEST) | 第52页 |
·采样测试方式(SAMPLE/PRELOAD) | 第52-53页 |
·边界扫描的测试指令 | 第53-54页 |
·被测电路分类 | 第54-56页 |
·EP2C8Q208 芯片的边界扫描支持 | 第54-56页 |
·EPM570T144 芯片的边界扫描支持 | 第56页 |
·边界扫描控制器 | 第56-58页 |
·测试软件的编写 | 第58-59页 |
·测试通路单元测试 | 第59-61页 |
·测试结论 | 第61-62页 |
第六章 总结与展望 | 第62-63页 |
致谢 | 第63-64页 |
参考文献 | 第64-66页 |
附录 | 第66-69页 |
攻硕期间取得的研究成果 | 第69-70页 |