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AFM的计量特性研究

中文摘要第1-6页
ABSTRACT第6-11页
第一章 绪论第11-26页
   ·纳米计量第11-14页
     ·纳米计量的重要性、迫切性第11-12页
     ·纳米计量的定义第12页
     ·纳米计量的内容第12页
     ·纳米计量的发展第12-13页
     ·纳米计量的目标第13-14页
   ·计量型原子力显微镜第14-16页
     ·AFM的一般性工作原理第14页
     ·商用AFM的固有缺陷及计量型AFM研制的迫切性第14-15页
     ·计量型AFM的结构和特点第15页
     ·计量型AFM的研究和发展第15-16页
   ·五大国际比对第16-24页
     ·概述第16-17页
     ·线宽第17-18页
     ·台高第18-20页
     ·线纹尺第20-22页
     ·一维栅第22-23页
     ·总结第23-24页
   ·研究背景和内容第24-26页
     ·研究背景第24页
     ·研究内容第24-25页
     ·研究创新点第25-26页
第二章 AFM小振幅工作模式的理论研究第26-38页
   ·概述第26页
   ·标准AFM技术的局限性第26-28页
   ·小振幅AFM理论第28-33页
     ·小振幅AFM的基本理论第28页
     ·小振幅原理的振动方程第28-29页
     ·小振幅轻敲模式第29-30页
     ·亚谐振(Sub-resonance)模式第30-31页
     ·FM小振幅模式第31页
     ·力调制模式第31-32页
     ·具体的实施因素第32页
     ·小振幅模式的具体工作条件—线性测量所要求的小振幅第32-33页
   ·小振幅模式的性能限制第33-36页
     ·稳定性的限制第33页
     ·灵敏度限制第33-34页
     ·热噪声限制第34-35页
     ·小振幅各种模式的性能评价第35-36页
   ·应用前景总结第36-38页
第三章 基于一维栅的AFM测量和校准第38-74页
   ·一维栅的测量第38-42页
     ·测量环境的控制第38页
     ·AFM的相关参数第38-39页
     ·一维栅的相关参数第39页
     ·测量参数和测量条件第39-42页
     ·校准方法第42页
   ·X-Y平面横向校准第42-58页
     ·利用晶格校准建立参考坐标系第43-46页
     ·PZT的横向线性校准第46-50页
     ·精确线性校准第50-55页
     ·横向校准的重复性分析第55-56页
     ·探针缺陷所造成的误差分析第56-58页
     ·小结第58页
   ·Z轴方向的校准第58-66页
     ·高度分布直方图分析第58-64页
     ·ISO5436分析法的原则第64-65页
     ·小结第65-66页
   ·基于FT和FFT的一维栅距计算第66-74页
     ·栅形图像的FFT变换第66-67页
     ·栅形傅氏图像的预处理第67-68页
     ·栅形傅氏图像的滤波第68-69页
     ·栅形栅距的求解第69-72页
     ·噪声误差的定性分析第72-73页
     ·小节第73-74页
第四章 基于双F-P的计量型AFM的设计第74-92页
   ·计量型AFM的实现原理第74-78页
     ·基本结构第74-75页
     ·工作原理分析第75-76页
     ·MAFM的分类及其特点第76-77页
     ·MAFM存在的问题及改进第77-78页
   ·基于双F-P的MAFM的设计第78-88页
     ·法布里-珀罗(F-P)干涉仪的原理和特点第78页
     ·激光双F-P干涉纳米测量系统第78-80页
     ·基于双F-P的“校准型”MAFM设计第80-83页
     ·“校准型”MAFM的微位移测量第83-88页
     ·基于双F-P的“校准型”MAFM的特点第88页
   ·基于双F-P干涉系统的“测量型”MAFM设计第88-91页
     ·结构原理分析第88-90页
     ·控制系统分析第90-91页
   ·小节第91-92页
第五章 总结与展望第92-95页
   ·研究工作总结第92-93页
   ·研究创新点第93页
   ·未来工作研究重点第93-95页
参考文献第95-101页
在读期间公开发表的论文和承担科研项目第101-102页
致谢第102页

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