摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-11页 |
第1 章 绪论 | 第11-17页 |
·引言 | 第11页 |
·轨道电路概述 | 第11-14页 |
·国外轨道电路的发展情况 | 第12-13页 |
·国内轨道电路的发展情况 | 第13-14页 |
·国内外轨道电路参数测试技术的发展与现状 | 第14-15页 |
·本文主要研究工作与结构 | 第15-17页 |
第2 章 系统原理设计 | 第17-31页 |
·UM71轨道电路简介 | 第17-20页 |
·UM71轨道电路的构成 | 第17-18页 |
·UM71轨道电路的工作原理 | 第18-19页 |
·UM71轨道电路的功能特点 | 第19页 |
·UM71轨道电路中补偿电容的作用 | 第19-20页 |
·测试系统的组成 | 第20-21页 |
·测试系统的原理 | 第21-30页 |
·载波信号频率测试原理 | 第21-22页 |
·低频调制信号频率测试原理 | 第22-23页 |
·移频信号电压测试原理 | 第23页 |
·电容常用测试方法 | 第23-30页 |
·本章小结 | 第30-31页 |
第3 章 系统硬件电路设计与实现 | 第31-55页 |
·概述 | 第31页 |
·移频信号测试单元 | 第31-35页 |
·过零比较器的设计 | 第31-32页 |
·单稳态触发器的设计 | 第32-34页 |
·低通滤波器的设计 | 第34-35页 |
·补偿电容与信号电压测试单元 | 第35-47页 |
·测试信号产生电路的设计 | 第35-38页 |
·功率放大电路的设计 | 第38-39页 |
·滤波电路的设计 | 第39-43页 |
·电压放大电路的设计 | 第43-44页 |
·整流电路的设计 | 第44-47页 |
·微控制器处理单元 | 第47-50页 |
·MSP430F149单片机简介 | 第47-48页 |
·MSP430F149单片机的最小系统 | 第48-49页 |
·MSP430F149单片机的系统应用 | 第49-50页 |
·显示单元 | 第50-51页 |
·电源单元 | 第51-54页 |
·+5 V电源的产生 | 第51-52页 |
·+5 V到+3.3 V的变换 | 第52页 |
·+5 V到-5 V的变换 | 第52-54页 |
·本章小结 | 第54-55页 |
第4 章 系统软件设计 | 第55-67页 |
·概述 | 第55页 |
·MSP430集成开发环境简介 | 第55-57页 |
·IAR Embedded Workbench概述 | 第55页 |
·EW430的调试工具C-SPY | 第55-57页 |
·MSP430 C语言特色 | 第57-58页 |
·软件实现功能 | 第58-59页 |
·软件设计思想 | 第59页 |
·系统主程序main.c | 第59页 |
·功能模块子程序的应用编程 | 第59-66页 |
·MSP430配置头文件config.h | 第59-60页 |
·系统初始化子程序init.c | 第60-61页 |
·载波信号频率测试子程序carrier.c | 第61-62页 |
·低频调制信号频率测试子程序lowfreq.c | 第62-63页 |
·移频信号电压测试子程序volt.c | 第63-64页 |
·补偿电容测试子程序cap.c | 第64页 |
·显示子程序LCM046.c | 第64-66页 |
·本章小结 | 第66-67页 |
第5 章 系统的抗干扰技术 | 第67-74页 |
·概述 | 第67页 |
·元器件的选择 | 第67-69页 |
·硬件抗干扰技术 | 第69-71页 |
·滤波 | 第69页 |
·去耦 | 第69-70页 |
·印刷电路板抗干扰措施 | 第70-71页 |
·软件抗干扰技术 | 第71-73页 |
·本章小结 | 第73-74页 |
第6 章 系统调试与测试结果 | 第74-79页 |
·概述 | 第74页 |
·系统调试 | 第74-76页 |
·硬件系统调试 | 第74-76页 |
·软件系统调试 | 第76页 |
·测试结果 | 第76-78页 |
·本章小结 | 第78-79页 |
结论 | 第79-80页 |
参考文献 | 第80-84页 |
攻读硕士学位期间承担的科研任务与主要成果 | 第84-85页 |
致谢 | 第85-86页 |
作者简介 | 第86页 |