| 第一章 半导体激光器噪声综述 | 第1-32页 |
| ·引言 | 第7页 |
| ·半导体激光器的光噪声 | 第7-11页 |
| ·光强度噪声 | 第7-9页 |
| ·光相位噪声 | 第9-11页 |
| ·半导体激光器的电噪声 | 第11-30页 |
| ·引言 | 第11-12页 |
| ·电噪声的种类 | 第12-24页 |
| ·半导体激光器的噪声等效电路 | 第24-27页 |
| ·电噪声的应用 | 第27-30页 |
| ·本论文的主要工作 | 第30-32页 |
| 第二章 半导体激光器噪声测量 | 第32-47页 |
| ·噪声的测量方法 | 第32-38页 |
| ·直接测量法 | 第32-33页 |
| ·互谱测量法 | 第33-34页 |
| ·基于PC 机的数字测量法 | 第34-35页 |
| ·多通道测量法 | 第35-36页 |
| ·干涉测量法 | 第36-38页 |
| ·噪声测试系统 | 第38-41页 |
| ·测试系统的硬件构成 | 第38页 |
| ·测试系统中的抗干扰技术 | 第38-41页 |
| ·测试系统的本底噪声 | 第41页 |
| ·几种常见器件的测量结果 | 第41-46页 |
| ·80811m 大功率半导体激光器的低频电噪声 | 第41-45页 |
| ·98011m 大功率半导体激光器的低频电噪声 | 第45-46页 |
| ·小结 | 第46-47页 |
| 第三章 噪声用于半导体激光器可靠性评估和筛选 | 第47-67页 |
| ·半导体激光器的可靠性 | 第47-54页 |
| ·半导体激光器的可靠性概述 | 第47页 |
| ·影响半导体激光器可靠性的主要因素 | 第47-50页 |
| ·半导体激光器可靠性的研究方法 | 第50-54页 |
| ·噪声与器件品质可靠性的相关性研究 | 第54-66页 |
| ·半导体高功率量子阱激光器退火后的电噪声 | 第54-57页 |
| ·加速老化电流条件下的电噪声 | 第57-66页 |
| ·小结 | 第66-67页 |
| 第四章 小波分析在噪声信号处理和器件可靠性评价中的应用 | 第67-76页 |
| ·小波分析概述 | 第67-68页 |
| ·小波分析的基本理论 | 第68-71页 |
| ·连续小波变换 | 第68-70页 |
| ·离散小波变换 | 第70-71页 |
| ·小波变换用于器件中1/f 噪声的提取 | 第71-72页 |
| ·引言 | 第71页 |
| ·理论分析 | 第71-72页 |
| ·实验结果 | 第72页 |
| ·用小波变换分析器件老化前后的电噪声 | 第72-75页 |
| ·小结 | 第75-76页 |
| 第五章 双极晶体管的1/f 噪声 | 第76-87页 |
| ·表面1/f 噪声 | 第76-81页 |
| ·p-n 结的表面1/f 噪声 | 第76-77页 |
| ·双极晶体管的表面1/f 噪声 | 第77-81页 |
| ·控制界面态减少表面可动电荷降低晶体管的电噪声 | 第81-86页 |
| ·小结 | 第86-87页 |
| 结论 | 第87-88页 |
| 参考文献 | 第88-98页 |
| 致谢 | 第98-99页 |
| 攻读博士学位期间发表论文 | 第99-100页 |
| 博士期间参与的项目 | 第100-101页 |
| 摘要 | 第101-104页 |
| Abstract | 第104-107页 |