用准光腔法测大面积介质片复介电常数及其分布
| 第一章 前言 | 第1-12页 |
| ·引言 | 第9页 |
| ·电介质复介电常数测试主要方法 | 第9-11页 |
| ·本文研究内容 | 第11-12页 |
| 第二章 准光学谐振腔 | 第12-39页 |
| ·基本参量 | 第13-14页 |
| ·曲率因子 | 第13-14页 |
| ·菲涅尔数 | 第14页 |
| ·场结构分析 | 第14-26页 |
| ·基模高斯波束 | 第14-17页 |
| ·高斯波束的傍轴特性 | 第17-18页 |
| ·高阶高斯波束 | 第18-21页 |
| ·高斯波束中电场和磁场分布 | 第21-24页 |
| ·高斯波束中的能量和能流 | 第24-26页 |
| ·谐振频率和束腰半径 | 第26-28页 |
| ·谐振频率 | 第26页 |
| ·束腰半径 | 第26-28页 |
| ·谐振腔的耦合系数 | 第28-29页 |
| ·光学谐振腔的设计 | 第29-39页 |
| 第三章 测试系统 | 第39-55页 |
| ·测试方法 | 第39-45页 |
| ·介电常数的定义 | 第40-41页 |
| ·加载准光学谐振腔场分布 | 第41-43页 |
| ·区域V_1中的场分布 | 第41-42页 |
| ·区域V_2中的场分布 | 第42-43页 |
| ·计算样品的介电常数 | 第43页 |
| ·样品的损耗角正切 | 第43-44页 |
| ·固有品质因数Q_0的测量 | 第44-45页 |
| ·毫米波测试系统 | 第45-50页 |
| ·测试系统的组成 | 第45-47页 |
| ·模式的识别和搜索原理 | 第47页 |
| ·定向耦合器的测试 | 第47-50页 |
| ·定向耦合器的测试 | 第47-49页 |
| ·二维移动平台的调试 | 第49-50页 |
| ·测试步骤 | 第50-55页 |
| ·空腔测试 | 第51-52页 |
| ·样品测试 | 第52-55页 |
| 第四章 测试结果与误差分析 | 第55-63页 |
| ·测试结果 | 第55-59页 |
| ·空腔测试结果 | 第55-56页 |
| ·样品测试结果 | 第56-59页 |
| ·误差分析 | 第59-63页 |
| ·ε′测量误差 | 第60-61页 |
| ·tanδ测量误差 | 第61-63页 |
| 第五章 结论 | 第63-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-67页 |
| 附录 | 第67-73页 |
| 在学期间的研究成果 | 第73页 |
