| 中文摘要 | 第1-5页 |
| 英文摘要 | 第5-15页 |
| 本论文的创新之处 | 第15-16页 |
| 第1章 绪论 | 第16-43页 |
| ·形状记忆合金概述 | 第16-29页 |
| ·形状记忆合金的研究历史 | 第16页 |
| ·形状记忆合金的主要特性及呈现条件 | 第16-22页 |
| ·形状记忆效应 | 第17-19页 |
| ·超弹性 | 第19-20页 |
| ·呈现形状记忆效应和超弹性的条件 | 第20-22页 |
| ·形状记忆合金性能的主要影响因素 | 第22-25页 |
| ·成分的影响 | 第22-23页 |
| ·相组成的影响 | 第23页 |
| ·晶粒取向的影响 | 第23-24页 |
| ·晶界的影响 | 第24页 |
| ·热处理的影响 | 第24页 |
| ·滑移变形的影响 | 第24-25页 |
| ·实用形状记忆合金的种类和主要特点 | 第25-27页 |
| ·TiNi基形状记忆合金 | 第25-27页 |
| ·Cu基形状记忆合金 | 第27页 |
| ·Fe基形状记忆合金 | 第27页 |
| ·形状记忆合金的应用 | 第27-29页 |
| ·形状记忆合金的应用概况 | 第27-28页 |
| ·形状记忆合金管接头的应用 | 第28页 |
| ·形状记忆合金管接头的原理、制作、使用和贮存 | 第28-29页 |
| ·普通形状记忆合金管接头的优点和不足 | 第29页 |
| ·TiNiNb形状记忆合金的研究综述 | 第29-36页 |
| ·TiNiNb形状记忆合金的制备工艺 | 第30页 |
| ·TiNiNb形状记忆合金的基本相变 | 第30-32页 |
| ·TiNiNb形状记忆合金的微观组织 | 第32-33页 |
| ·TiNiNb形状记忆合金的主要性能 | 第33-34页 |
| ·TiNiNb形状记忆合金相变温度滞后和应变恢复率的影响因素 | 第34-35页 |
| ·TiNiNb形状记忆合金相变温度滞后的机制 | 第35页 |
| ·TiNiNb形状记忆合金的应用现状 | 第35-36页 |
| ·应力松弛简介 | 第36-38页 |
| ·应力松弛的描述和数据处理 | 第36-37页 |
| ·应力松弛的机理 | 第37-38页 |
| ·影响金属材料应力松弛抗力的因素 | 第38页 |
| ·辐照效应简介 | 第38-41页 |
| ·辐照损伤过程 | 第39页 |
| ·辐照回复 | 第39-40页 |
| ·辐照相变 | 第40页 |
| ·形状记忆合金的辐照效应 | 第40-41页 |
| ·本文研究的工程背景 | 第41-42页 |
| ·本文研究的内容和目的 | 第42-43页 |
| 第2章 TiNiNb形状记忆合金850℃退火试样的室温组织 | 第43-53页 |
| ·引言 | 第43页 |
| ·实验 | 第43-44页 |
| ·实验材料 | 第43页 |
| ·实验方法 | 第43-44页 |
| ·实验设备 | 第44页 |
| ·实验结果 | 第44-49页 |
| ·X衍射结果 | 第44-45页 |
| ·金相组织形貌 | 第45页 |
| ·SEM组织形貌和物相成分 | 第45-46页 |
| ·TEN组织形貌及物相的电子衍射花样 | 第46-49页 |
| ·分析和讨论 | 第49-52页 |
| ·850℃退火试样的主要物相 | 第49-50页 |
| ·850℃退火试样的次要物相 | 第50-51页 |
| ·850℃退火试样的组织形貌 | 第51-52页 |
| ·对850℃退火试样组织的评价 | 第52页 |
| ·小结 | 第52-53页 |
| 第3章 TiNiNb形状记忆合金的马氏体相变特性与力学性能 | 第53-67页 |
| ·引言 | 第53页 |
| ·实验 | 第53-55页 |
| ·试样 | 第53页 |
| ·拉伸实验 | 第53-54页 |
| ·相变温度的测定 | 第54-55页 |
| ·超弹性的训练方法 | 第55页 |
| ·实验结果及讨论 | 第55-65页 |
| ·TiNiNb形状记忆合金的相变特性 | 第55-61页 |
| ·相变温度 | 第55-56页 |
| ·形变对马氏体逆相变温度的影响 | 第56-59页 |
| ·形变对应变恢复的影响 | 第59-60页 |
| ·预应变工艺参数的确定 | 第60-61页 |
| ·TiNiNb形状记忆合金的力学性能 | 第61-63页 |
| ·TiNiNb形状记忆合金的超弹性 | 第63-65页 |
| ·小结 | 第65-67页 |
| 第4章 TiNiNb形状记忆合金的恢复力和恢复温度 | 第67-78页 |
| ·引言 | 第67页 |
| ·实验 | 第67-68页 |
| ·实验结果及分析 | 第68-74页 |
| ·60℃应变16％试样的恢复力和恢复温度 | 第68-69页 |
| ·不同预应变量对恢复力和恢复温度的影响 | 第69-71页 |
| ·预恢复对恢复力和恢复温度的影响 | 第71-74页 |
| ·讨论 | 第74-76页 |
| ·恢复力的近似计算 | 第74-75页 |
| ·约束升温产生的塑性变形量 | 第75-76页 |
| ·小结 | 第76-78页 |
| 第5章 TiNiNb形状记忆合金的应力松弛行为 | 第78-88页 |
| ·引言 | 第78页 |
| ·实验 | 第78-79页 |
| ·试样及实验设备 | 第78页 |
| ·恒温应力松弛实验 | 第78-79页 |
| ·变温应力松弛实验 | 第79页 |
| ·应力松弛试样的组织研究 | 第79页 |
| ·实验结果及分析 | 第79-84页 |
| ·TiNiNb合金的恒温应力松弛 | 第79-80页 |
| ·相同初始应力，不同温度下的应力松弛 | 第79-80页 |
| ·相同温度，不同初始应力时的应力松弛 | 第80页 |
| ·TiNiNb形状记忆合金的变温应力松弛 | 第80-82页 |
| ·相同初应力，不同温度循环下的应力松弛 | 第80-81页 |
| ·相同温度循环，不同初始应力时的应力松弛 | 第81-82页 |
| ·应力松弛试样的X衍射 | 第82-83页 |
| ·应力松弛试样的SEM组织 | 第83-84页 |
| ·讨论 | 第84-87页 |
| ·应力松弛曲线的表达 | 第84-85页 |
| ·应力松弛行为的比较和评价 | 第85-86页 |
| ·TiNiNb形状记忆合金应力松弛的机理及抗松弛性能良好的原因 | 第86-87页 |
| ·小结 | 第87-88页 |
| 第6章 电子辐照对TiNiNb形状记忆合金相变和组织的影响 | 第88-96页 |
| ·引言 | 第88页 |
| ·实验 | 第88页 |
| ·实验结果及分析 | 第88-94页 |
| ·电子辐照试样的相变温度 | 第88-89页 |
| ·电子辐照试样的X衍射 | 第89-91页 |
| ·电子辐照12h试样的TEM形貌和电子衍射 | 第91-93页 |
| ·电子辐照12h试样的SEM形貌和物相的成分 | 第93-94页 |
| ·讨论 | 第94-95页 |
| ·电子辐照影响TiNiNb形状记忆合金相变和组织的机制 | 第94-95页 |
| ·对TiNiNb形状记忆合金抗辐照性能的评价 | 第95页 |
| ·小结 | 第95-96页 |
| 第7章 TiNiNb形状记忆合金管接头系统的强度计算及优化设计 | 第96-119页 |
| ·引言 | 第96页 |
| ·管接头系统内的应力分析 | 第96-105页 |
| ·管接头系统制备过程的数学模型 | 第96-104页 |
| ·初始几何尺寸 | 第96-97页 |
| ·管接头扩径过程 | 第97页 |
| ·管接头系统的装配过程 | 第97-104页 |
| ·接触温度 | 第97-98页 |
| ·相变回复阶段的抱紧力和应力强度 | 第98-102页 |
| ·热膨胀导致的抱紧力与应力强度的变化 | 第102-104页 |
| ·使用过程中应力强度和抱紧力的计算 | 第104-105页 |
| ·第一次使用过程中抱紧力和应力强度的计算 | 第104-105页 |
| ·一次热循环后抱紧力和应力强度的计算 | 第105页 |
| ·模型的计算结果及分析 | 第105-114页 |
| ·模型的参数 | 第105-106页 |
| ·装配过程的抱紧力以及最大应力强度 | 第106-108页 |
| ·使用过程中的抱紧力及最大应力强度 | 第108-111页 |
| ·管接头系统几何尺寸对管接头强度的影响 | 第111-114页 |
| ·管接头几何尺寸对抱紧力及最大应力强度的影响 | 第111-114页 |
| ·厚管壁的管接头系统的抱紧力及最大应力强度 | 第114页 |
| ·管接头的优化设计 | 第114-118页 |
| ·优化设计原则 | 第114-115页 |
| ·优化设计及结果 | 第115-118页 |
| ·小结 | 第118-119页 |
| 第8章 结论 | 第119-122页 |
| 参考文献 | 第122-129页 |
| 作者在读期间科研成果简介 | 第129-131页 |
| 声明 | 第131-132页 |
| 致谢 | 第132-133页 |
