| 1 引言 | 第1-12页 |
| 1．1 步进电机细分驱动技术 | 第7-9页 |
| 1．1．1 步进电机细分驱动必要性 | 第8页 |
| 1．1．2 步进电机细分驱动的研究现状 | 第8-9页 |
| 1．2 步进电机细分驱动微步距测量与修正技术 | 第9-11页 |
| 1．2．1 步进电机测试技术 | 第9-10页 |
| 1．2．2 步进电机细分驱动微步距测量与修正技术现状 | 第10-11页 |
| 1．3 本课题的研究内容和技术路线 | 第11-12页 |
| 2 步进电机细分驱动器的设计 | 第12-34页 |
| 2．1 步进电机细分驱动的基本原理 | 第12-13页 |
| 2．2 反应式步进电机细分驱动器的构成 | 第13-14页 |
| 2．3 步进电机细分数字环形分配器的设计思想 | 第14-17页 |
| 2．3．1 细分驱动电机绕组的电流波形 | 第14-15页 |
| 2．3．2 相励磁电流作为受控电流源实现细分控制 | 第15页 |
| 2．3．3 阶梯控制电压信号的产生 | 第15-17页 |
| 2．3．4 三相反应式步进电机细分环形分配器的设计思想 | 第17页 |
| 2．4 基于PLD器件和ISP技术的数字细分环分器的实现 | 第17-21页 |
| 2．4．1 PLD器件简介 | 第17-19页 |
| 2．4．2 环形分配器实现方案比较 | 第19-20页 |
| 2．4．3 用PLD器件实现多功能环形分配器 | 第20-21页 |
| 2．5 步进电机多重细分 | 第21-22页 |
| 2．6 基于单片机的事件处理单元 | 第22-28页 |
| 2．6．1 单细分调速 | 第23-24页 |
| 2．6．2 变细分调速 | 第24页 |
| 2．6．3 调速域值的限制因素 | 第24-26页 |
| 2．6．4 点位控制 | 第26-28页 |
| 2．7 D／A转换 | 第28-29页 |
| 2．8 斩波恒流驱动 | 第29-31页 |
| 2．9 驱动电路及前级推动 | 第31-34页 |
| 2．9．1 驱动输出电路 | 第31-32页 |
| 2．9．2 推动级电路 | 第32-33页 |
| 2．9．3 与门同频驱动 | 第33-34页 |
| 3 步进电机细分非线性分析 | 第34-40页 |
| 3．1 引起细分非线性的主要原因 | 第34-35页 |
| 3．1．1 由制造误差引起的误差 | 第34页 |
| 3．1．2 步进电机励磁非线性引起的误差 | 第34-35页 |
| 3．2 细分的相绕组磁链电流模型 | 第35-40页 |
| 3．2．1 三相反应式步进电机绕组磁链方程 | 第35-37页 |
| 3．2．2 满足均匀细分所要求的磁链增量关系 | 第37-40页 |
| 4 微步距测量的新尝试 | 第40-56页 |
| 4．1 错位测量的工具—圆光栅介绍 | 第40-41页 |
| 4．2 错位测量的参数定义 | 第41页 |
| 4．3 错位测量与逼近修正方法适用的充要条件 | 第41-42页 |
| 4．4 错位测量与逼近修正原理 | 第42-49页 |
| 4．5 错位测量与逼近修正法误差分析 | 第49页 |
| 4．6 实际应用中的几个问题 | 第49-53页 |
| 4．6．1 圆光栅的选择 | 第49-53页 |
| 4．6．2 步进电机与圆光栅零点对位启动 | 第53页 |
| 4．6．3 超低速运行测试 | 第53页 |
| 4．6．4 振荡干扰 | 第53页 |
| 4．7 错位测量具体设计 | 第53-56页 |
| 4．7．1 整体方案 | 第53-54页 |
| 4．7．2 硬件设计 | 第54页 |
| 4．7．3 软件设计 | 第54-56页 |
| 5 实验及结果分析 | 第56-57页 |
| 5．1 实验仪器和设备 | 第56页 |
| 5．2 步进电机错位测量与逼近修正实验 | 第56-57页 |
| 6 结论 | 第57-59页 |
| 参考文献 | 第59-65页 |
| 英文摘要 | 第65-67页 |
| 致谢 | 第67页 |
