废电路板硫脲提金
| 摘要 | 第1-8页 |
| ABSTRACT | 第8-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-27页 |
| ·课题背景 | 第13-14页 |
| ·废电路板提金技术概述 | 第14-18页 |
| ·物理法预处理 | 第14-15页 |
| ·化学法预处理 | 第15页 |
| ·浸金体系分析 | 第15-18页 |
| ·硫脲浸金液富集回收金的方法 | 第18-21页 |
| ·硫脲提金技术的发展历史与前沿问题 | 第21-23页 |
| ·硫脲提金技术的发展历史 | 第21页 |
| ·硫脲提金的发展前景 | 第21-22页 |
| ·硫脲提金法的主要问题与今后研究热点 | 第22-23页 |
| ·本课题研究的内容、方法、技术路线 | 第23-24页 |
| ·参考文献 | 第24-27页 |
| 第二章 废电路板金属成分元素分析 | 第27-41页 |
| ·引言 | 第27-28页 |
| ·碘量法测定铜 | 第28-29页 |
| ·ICP-AES法测定废电路板金属成分 | 第29-35页 |
| ·原理 | 第29-31页 |
| ·实验部分 | 第31-33页 |
| ·结果与讨论 | 第33-35页 |
| ·结论 | 第35页 |
| ·火焰原子吸收光谱法(FAAS)测定金属成分 | 第35-38页 |
| ·工作原理 | 第35-36页 |
| ·实验仪器与试剂 | 第36-37页 |
| ·实验方法 | 第37页 |
| ·实验结果与讨论 | 第37-38页 |
| ·小结 | 第38-39页 |
| ·参考文献 | 第39-41页 |
| 第三章 废电路板预处理 | 第41-53页 |
| ·引言 | 第41页 |
| ·物理法预处理 | 第41-42页 |
| ·化学法预处理 | 第42-52页 |
| ·浸铜方法的综述 | 第42-46页 |
| ·硝酸-硫酸混酸浸铜实验研究 | 第46-52页 |
| ·小结 | 第52页 |
| ·参考文献 | 第52-53页 |
| 第四章 废电路板硫脲提金 | 第53-85页 |
| ·硫脲提金体系基础 | 第53-62页 |
| ·硫脲的基本特性 | 第53-54页 |
| ·金的基本物化性质 | 第54-55页 |
| ·硫脲浸金热力学基础 | 第55-60页 |
| ·硫脲浸金动力学基础 | 第60-61页 |
| ·硫脲浸金电化学基础 | 第61-62页 |
| ·硫脲提金实验研究 | 第62-74页 |
| ·仪器与试剂 | 第62页 |
| ·实验方法 | 第62页 |
| ·单因素条件实验 | 第62-69页 |
| ·正交条件实验 | 第69-74页 |
| ·浸金最佳条件实验 | 第74页 |
| ·硫脲浸出液置换回收研究 | 第74-82页 |
| ·置换反应的热力学基础 | 第75-76页 |
| ·置换反应的动力学基础 | 第76-77页 |
| ·一级反应动力学的偏离 | 第77页 |
| ·置换回收硫脲浸出液实验中贱金属的优选 | 第77-78页 |
| ·锌粉、铁粉置换回收硫脲浸出液金银的实验 | 第78-82页 |
| ·小结 | 第82页 |
| ·参考文献 | 第82-85页 |
| 第五章 碱性、弱酸性硫脲提金探索研究 | 第85-101页 |
| ·引言 | 第85页 |
| ·碱性硫脲提金体系 | 第85-96页 |
| ·碱性硫脲提金体系基础 | 第86-89页 |
| ·碱性硫脲提金实验研究 | 第89-96页 |
| ·弱酸性温和硫脲提金体系 | 第96-98页 |
| ·弱酸性温和硫脲体系的提出 | 第96-97页 |
| ·弱酸性温和硫脲提金实验 | 第97-98页 |
| ·小结 | 第98页 |
| ·参考文献 | 第98-101页 |
| 第六章 结论与建议 | 第101-104页 |
| ·结论 | 第101-103页 |
| ·建议 | 第103-104页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文目录 | 第104-105页 |
| 致谢 | 第105页 |
