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BESIII Muon电子学VME控制扇出插件升级优化

摘要第1-6页
ABSTRACT第6-11页
第1章 引言第11-31页
   ·物理学的理论基础第11-12页
   ·北京正负电子对撞机与北京谱仪第12-18页
     ·北京正负电子对撞机(Beijing Electron Positron Collider,简称BEPC)第12-13页
     ·北京谱仪第13-14页
     ·BESIII 的升级改造第14-16页
     ·μ子鉴别器第16-18页
   ·Muon 电子学读出系统整体方案第18-20页
   ·Muon 电子学系统VME 子系统设计目标第20-21页
     ·Muon 电子学系统VME 子系统功能设计目标第20-21页
     ·VME 子系统性能设计目标第21页
   ·VME 总线简介第21-30页
     ·VME 总线协议综述第21-23页
     ·VME 总线功能结构第23-25页
     ·VME 总线周期第25-30页
       ·读写周期第25-27页
       ·块传输周期第27-28页
       ·中断响应周期第28-30页
   ·本论文的章节安排第30-31页
第2章 VME 子系统与VME 控制扇出插件方案设计第31-41页
   ·VME 子系统整体方案设计第31-32页
   ·VME 控制扇出插件硬件设计第32-40页
     ·VME 控制扇出插件FANOUT 功能简介与硬件设计方案第32-33页
     ·硬件芯片选择第33-39页
       ·Cyclone 系列FPGA 特点第34-36页
       ·FPGA 逻辑设计流程第36-38页
       ·外围芯片选择第38-39页
     ·VME 控制扇出插件FANOUT PCB 设计第39-40页
   ·本章小结第40-41页
第3章 时钟对FPGA 逻辑影响的支持实验第41-53页
   ·实验系统准备第41-50页
     ·本实验系统采用的VME 控制器第41-45页
       ·VxWorks 操作系统特点第41-42页
       ·VxWorks 操作系统组成第42-45页
     ·VME 控制器程序设计第45-47页
       ·VME 控制器主程序第45页
       ·通过VME 总线从FANOUT 读取数据任务第45-47页
       ·实验数据判断与错误数据上传任务第47页
     ·上位机Upcontrol Computer 程序设计第47-49页
       ·C++ Builder 简介第47-48页
       ·上位机Up Control Computer 数据接收软件设计第48-49页
     ·VME 控制扇出插件FANOUT FPGA 逻辑功能设计第49-50页
   ·支持性实验一:两时钟共存于同一片FPGA 内第50-51页
   ·支持性实验二:同一片FPGA 内两时钟切换第51-52页
   ·本章小结第52-53页
第4章 VME 控制扇出插件FANOUT FPGA 逻辑设计第53-67页
   ·VME 控制扇出插件FANOUT FPGA 逻辑功能介绍第53-57页
   ·VME 总线接口逻辑模块InterfaceLogic 设计第57-62页
     ·VME 普通方式读写周期第57-58页
     ·VME 中断响应第58-59页
     ·VME 总线DMA 响应第59-61页
     ·VME 总线命令译码第61-62页
   ·Trig-CHK 管理模块SelfTest_TrigCHK 设计第62-63页
   ·光纤快控制信号传输模块FastSignalTransfer 设计第63-65页
   ·光纤快控制信号接受与状态信号传输模块FastSignal_StatusShift 设计第65页
   ·时钟切换模块ClkSwitch 设计第65-66页
   ·本章小结第66-67页
第5章 VME Muon 电子学小系统测试第67-75页
   ·BES III VME Muon 电子学小系统第67-68页
   ·VME 控制器PowerPC 程序设计第68-72页
     ·VME 数据读出插件READOUT 初始化第68页
     ·VME 控制器控制命令发送与接收第68-70页
     ·CBLT 数据读取第70-72页
     ·数据上传第72页
   ·上位机Up Control Computer 数据接收软件设计第72页
   ·VME 小系统功能测试第72-74页
     ·VME 读出插件READOUT 配置测试第72-73页
     ·FULL/ERROR 功能测试第73页
     ·外触发功能测试第73-74页
   ·稳定性测试第74页
   ·本章小结第74-75页
第6章 结束语第75-76页
参考文献第76-77页
附录 VME 控制扇出插件FANOUT 电路图第77-85页
致谢第85-86页
在读期间发表的学术论文第86页

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