摘要 | 第1-6页 |
ABSTRACT | 第6-11页 |
第1章 引言 | 第11-31页 |
·物理学的理论基础 | 第11-12页 |
·北京正负电子对撞机与北京谱仪 | 第12-18页 |
·北京正负电子对撞机(Beijing Electron Positron Collider,简称BEPC) | 第12-13页 |
·北京谱仪 | 第13-14页 |
·BESIII 的升级改造 | 第14-16页 |
·μ子鉴别器 | 第16-18页 |
·Muon 电子学读出系统整体方案 | 第18-20页 |
·Muon 电子学系统VME 子系统设计目标 | 第20-21页 |
·Muon 电子学系统VME 子系统功能设计目标 | 第20-21页 |
·VME 子系统性能设计目标 | 第21页 |
·VME 总线简介 | 第21-30页 |
·VME 总线协议综述 | 第21-23页 |
·VME 总线功能结构 | 第23-25页 |
·VME 总线周期 | 第25-30页 |
·读写周期 | 第25-27页 |
·块传输周期 | 第27-28页 |
·中断响应周期 | 第28-30页 |
·本论文的章节安排 | 第30-31页 |
第2章 VME 子系统与VME 控制扇出插件方案设计 | 第31-41页 |
·VME 子系统整体方案设计 | 第31-32页 |
·VME 控制扇出插件硬件设计 | 第32-40页 |
·VME 控制扇出插件FANOUT 功能简介与硬件设计方案 | 第32-33页 |
·硬件芯片选择 | 第33-39页 |
·Cyclone 系列FPGA 特点 | 第34-36页 |
·FPGA 逻辑设计流程 | 第36-38页 |
·外围芯片选择 | 第38-39页 |
·VME 控制扇出插件FANOUT PCB 设计 | 第39-40页 |
·本章小结 | 第40-41页 |
第3章 时钟对FPGA 逻辑影响的支持实验 | 第41-53页 |
·实验系统准备 | 第41-50页 |
·本实验系统采用的VME 控制器 | 第41-45页 |
·VxWorks 操作系统特点 | 第41-42页 |
·VxWorks 操作系统组成 | 第42-45页 |
·VME 控制器程序设计 | 第45-47页 |
·VME 控制器主程序 | 第45页 |
·通过VME 总线从FANOUT 读取数据任务 | 第45-47页 |
·实验数据判断与错误数据上传任务 | 第47页 |
·上位机Upcontrol Computer 程序设计 | 第47-49页 |
·C++ Builder 简介 | 第47-48页 |
·上位机Up Control Computer 数据接收软件设计 | 第48-49页 |
·VME 控制扇出插件FANOUT FPGA 逻辑功能设计 | 第49-50页 |
·支持性实验一:两时钟共存于同一片FPGA 内 | 第50-51页 |
·支持性实验二:同一片FPGA 内两时钟切换 | 第51-52页 |
·本章小结 | 第52-53页 |
第4章 VME 控制扇出插件FANOUT FPGA 逻辑设计 | 第53-67页 |
·VME 控制扇出插件FANOUT FPGA 逻辑功能介绍 | 第53-57页 |
·VME 总线接口逻辑模块InterfaceLogic 设计 | 第57-62页 |
·VME 普通方式读写周期 | 第57-58页 |
·VME 中断响应 | 第58-59页 |
·VME 总线DMA 响应 | 第59-61页 |
·VME 总线命令译码 | 第61-62页 |
·Trig-CHK 管理模块SelfTest_TrigCHK 设计 | 第62-63页 |
·光纤快控制信号传输模块FastSignalTransfer 设计 | 第63-65页 |
·光纤快控制信号接受与状态信号传输模块FastSignal_StatusShift 设计 | 第65页 |
·时钟切换模块ClkSwitch 设计 | 第65-66页 |
·本章小结 | 第66-67页 |
第5章 VME Muon 电子学小系统测试 | 第67-75页 |
·BES III VME Muon 电子学小系统 | 第67-68页 |
·VME 控制器PowerPC 程序设计 | 第68-72页 |
·VME 数据读出插件READOUT 初始化 | 第68页 |
·VME 控制器控制命令发送与接收 | 第68-70页 |
·CBLT 数据读取 | 第70-72页 |
·数据上传 | 第72页 |
·上位机Up Control Computer 数据接收软件设计 | 第72页 |
·VME 小系统功能测试 | 第72-74页 |
·VME 读出插件READOUT 配置测试 | 第72-73页 |
·FULL/ERROR 功能测试 | 第73页 |
·外触发功能测试 | 第73-74页 |
·稳定性测试 | 第74页 |
·本章小结 | 第74-75页 |
第6章 结束语 | 第75-76页 |
参考文献 | 第76-77页 |
附录 VME 控制扇出插件FANOUT 电路图 | 第77-85页 |
致谢 | 第85-86页 |
在读期间发表的学术论文 | 第86页 |