微波暗室及其自动化测试系统的可靠性研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-11页 |
| ·研究背景和目的 | 第8-9页 |
| ·国内外发展情况 | 第9-10页 |
| ·论文研究内容和结构 | 第10-11页 |
| 第二章 微波暗室的分类和电性能 | 第11-17页 |
| ·微波暗室的分类 | 第11-13页 |
| ·微波暗室的电性能 | 第13-15页 |
| ·微波暗室的设计 | 第15-16页 |
| ·本章小结 | 第16-17页 |
| 第三章 暗室反射率电平的仿真和实测 | 第17-39页 |
| ·暗室的建模和能量计算 | 第17-26页 |
| ·场分析 | 第18-22页 |
| ·吸波材料及其反射率计算 | 第22-25页 |
| ·建模和仿真分析 | 第25-26页 |
| ·反射率电平的仿真结果 | 第26-28页 |
| ·静区范围的确立 | 第28-32页 |
| ·静区反射率电平的实测和分析 | 第32-38页 |
| ·测试方法 | 第32-36页 |
| ·实测结果和仿真结果的对比分析 | 第36-38页 |
| ·本章小结 | 第38-39页 |
| 第四章 微波暗室测试系统及其测量不确定度评定 | 第39-58页 |
| ·测量系统及其不确定度评定 | 第40-42页 |
| ·测量系统的基本概念 | 第40-41页 |
| ·测量系统不确定度来源和分类 | 第41-42页 |
| ·TRP 测试系统的测量不确定度评定 | 第42-50页 |
| ·测试系统 | 第43页 |
| ·TRP 测试系统的不确定度研究 | 第43-50页 |
| ·TIS 测试系统的测量不确定度评定 | 第50-52页 |
| ·测试系统 | 第50页 |
| ·TIS 测试系统的不确定度研究 | 第50-52页 |
| ·TIS 测试系统的注意问题 | 第52页 |
| ·增益测试系统的测量不确定度评定 | 第52-56页 |
| ·传统的天线增益测试法 | 第52-53页 |
| ·自动测试系统和原理 | 第53-54页 |
| ·增益测试系统的不确定度研究 | 第54-56页 |
| ·减小不确定度的措施分析 | 第56-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 第五章 基于数据预测的TIS 快速测试方法 | 第58-65页 |
| ·传统测试方法 | 第58页 |
| ·快速测试方法 | 第58-64页 |
| ·建立数学模型 | 第59-60页 |
| ·曲线拟合 | 第60-61页 |
| ·数据预测 | 第61-64页 |
| ·本章小结 | 第64-65页 |
| 第六章 总结与展望 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-68页 |
| 攻读硕士学位期间公开发表的论文 | 第68-69页 |
| 致谢 | 第69-70页 |
| 附录 | 第70-72页 |
| 详细摘要 | 第72-74页 |
